TY - JOUR A1 - Baureis, Peter A1 - Weiß, O. A1 - Kellmann, N. A1 - Weber, N. A1 - Weigel, R. T1 - A new Compact Model for the Avalanche Effect in InAlAs/InGaAs HBTs JF - IEEE Electron Device Letters Y1 - 2006 VL - 27 IS - 6 SP - 431 EP - 434 ER -