TY - CHAP A1 - Glück, Stefan A1 - Weippert, Ralf A1 - Drescher, Thomas A1 - Böckler, Carolin A1 - Schiffler, Andreas T1 - Herausforderungen der mechatronischen Produktentwicklung mittels Systems Engineering meistern am Beispiel sensorisierten Lager T2 - Tag des Systems Engineering Y1 - 2016 SN - 9783446451261 VL - 1 SP - 180 EP - 190 ER - TY - CHAP A1 - Weippert, Ralf A1 - Drescher, Thomas A1 - Glück, Stefan A1 - Böckler, Carolin A1 - Schiffler, Andreas T1 - Herausforderungen der mechatronischen Produktentwicklung mittels Systems Engineering meistern am Beispiel sensorisierter Lager T2 - Tag des Systems Engineering Y1 - 2016 SP - 183 EP - 183 ER - TY - GEN A1 - Seybold, Alexander A1 - Wegner, Christoph A1 - Glück, Stefan A1 - Schiffler, Andreas A1 - Voll, Martin T1 - Measuring system for monitoring a spindle (Patent, US-20210187684-A1) Y1 - 2021 UR - https://image-ppubs.uspto.gov/dirsearch-public/print/downloadPdf/20210187684 ER -