TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Engelmann, Bastian T1 - Approaches for the control of microsystem assembly by image processing JF - Conference Proceedings of Micro System 2005 in Munich Y1 - 2005 ER - TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Dietrich, Björn A1 - Hafner, Philip A1 - Engelmann, Bastian T1 - Messstrategien für die zerstörungsfreie Schichtmessung mittels Ultraschallmikroskopie Strategies for the Non-Destructive Characterization of Thin Layers with Scanning Acoustic Microscopy JF - tm - Technisches Messen Y1 - 2008 VL - 75 IS - 11 SP - 577 EP - 585 ER - TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Hafner, Philip A1 - Engelmann, Bastian T1 - Strategies for the non-destructive characterization of thin layers with Scanning Acoustic Microscopy JF - tm - Technisches Messen Y1 - 2007 VL - 74 IS - 6 SP - 365 EP - 373 ER - TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Engelmann, Bastian T1 - Keine Ermessensfrage!: Warum fähige Messgeräte wichtige Voraussetzung für Oberflächenoptimierungen sind JF - Metalloberfläche Y1 - 2005 VL - 59 IS - 9 SP - 39 EP - 42 ER - TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Driessen, Sascha A1 - Engelmann, Bastian T1 - Controlling the assembly of micro systems by image processing JF - Microsystem technologies Y1 - 2006 VL - 12 SP - 640 EP - 645 ER - TY - CHAP A1 - Bosse, L A1 - Driessen, Sascha A1 - Engelmann, Bastian A1 - Gillner, A A1 - Poprawe, R A1 - Pfeifer, Tilo A1 - Schmitt, Robert T1 - Inline-Verfahren T2 - Montage hybrider Mikrosysteme: Handhabungs-und Fügetechniken für die Klein-und Mittelserienfertigung Y1 - 2005 U6 - https://doi.org/10.1007/3-540-27536-3_16 SP - 187 EP - 218 ER - TY - CHAP A1 - Pfeifer, Tilo A1 - Schmitt, Robert A1 - Driessen, Sascha A1 - Engelmann, Bastian T1 - Offline-Verfahren T2 - Montage hybrider Mikrosysteme: Handhabungs-und Fügetechniken für die Klein-und Mittelserienfertigung Y1 - 2005 U6 - https://doi.org/10.1007/3-540-27536-3_15 SP - 175 EP - 186 ER - TY - CHAP A1 - Schmitt, Robert A1 - Engelmann, Bastian T1 - Untersuchung von Zusammenhängen zwischen Oberflächenkenngrößen und Funktionsparametern T2 - Tagungs-CD zur Konferenz Oberflächentage 2005 in Innsbruck Y1 - 2005 ER -