TY - CHAP A1 - Küchler, Andreas A1 - Frost, J. A1 - Koch, N. A1 - Krump, R. T1 - Neue Diagnosegrößen für die Bewertung der TE-Alterung in hochbeanspruchten Isolationssystemen BT - ETG Fachtagung „Einfluss von Grenzflächen auf die Lebensdauer elektrischer Isolierungen“ T2 - ETG-Fachbericht 76 Y1 - 1999 PB - VDE CY - Bad Nauheim ER -