TY - JOUR A1 - Pfeifer, Tilo A1 - Benz, Manfred A1 - Engelmann, Bastian A1 - Hafner, Philip T1 - High precision ultrasonic on-machine measurement JF - Measurement Y1 - 2006 VL - 39 IS - 5 SP - 407 EP - 414 ER - TY - CHAP A1 - Driessen, Sascha A1 - Engelmann, Bastian T1 - überwachung von Handhabungs- und Fügeprozessen in der Mikromontage T2 - Tagungsband zur Konferenz Kolloquium Mikroproduktion Y1 - 2005 SP - 59 EP - 70 ER - TY - CHAP A1 - Schmitt, Robert A1 - Engelmann, Bastian T1 - Untersuchung von Zusammenhängen zwischen Oberflächenkenngrößen und Funktionsparametern T2 - Tagungs-CD zur Konferenz Oberflächentage 2005 in Innsbruck Y1 - 2005 ER - TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Engelmann, Bastian T1 - Approaches for the control of microsystem assembly by image processing JF - Conference Proceedings of Micro System 2005 in Munich Y1 - 2005 ER - TY - JOUR A1 - Driessen, Sascha A1 - Dietrich, B. A1 - Engelmann, Bastian T1 - Mit Planung ans Ziel JF - Qualität und Zuverlässigkeit Y1 - 2004 IS - 9 SP - 19 EP - 20 ER - TY - JOUR A1 - Pfeifer, Tilo A1 - Engelmann, Bastian T1 - Strategies for the surface measurement with a confocal laserscanning-microscope JF - Tagungsband zur Konferenz IX. Internationales Oberflächenkolloquium in Chemnitz Y1 - 2004 SP - 249 EP - 257 ER - TY - CHAP A1 - Pfeifer, Tilo A1 - Driessen, Sascha A1 - Engelmann, Bastian T1 - Control for the Assembly of Micro Systems T2 - Conference Proceeding of 8th International Symposium on Measurement and Quality Control in Production in Erlangen Y1 - 2004 SP - 603 EP - 608 ER - TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Driessen, Sascha A1 - Engelmann, Bastian T1 - Controlling the assembly of micro systems by image processing JF - Microsystem technologies Y1 - 2006 VL - 12 SP - 640 EP - 645 ER - TY - JOUR A1 - Pfeifer, Tilo A1 - Dussler, G A1 - Engelmann, Bastian T1 - Visualisierungsmethoden für Mikrostrukturen mit dem konfokalen Laser-Scanning-Mikroskop JF - VDI-Berichte Y1 - 2003 SP - 175 EP - 185 ER - TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Engelmann, Bastian T1 - Keine Ermessensfrage!: Warum fähige Messgeräte wichtige Voraussetzung für Oberflächenoptimierungen sind JF - Metalloberfläche Y1 - 2005 VL - 59 IS - 9 SP - 39 EP - 42 ER - TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Hafner, Philip A1 - Engelmann, Bastian T1 - Strategies for the non-destructive characterization of thin layers with Scanning Acoustic Microscopy JF - tm - Technisches Messen Y1 - 2007 VL - 74 IS - 6 SP - 365 EP - 373 ER - TY - CHAP A1 - Bosse, L A1 - Driessen, Sascha A1 - Engelmann, Bastian A1 - Gillner, A A1 - Poprawe, R A1 - Pfeifer, Tilo A1 - Schmitt, Robert T1 - Inline-Verfahren T2 - Montage hybrider Mikrosysteme: Handhabungs-und Fügetechniken für die Klein-und Mittelserienfertigung Y1 - 2005 U6 - https://doi.org/10.1007/3-540-27536-3_16 SP - 187 EP - 218 ER -