@inproceedings{HartmannManaraStarketal., author = {Hartmann, J{\"u}rgen and Manara, Jochen and Stark, Thomas and Arduini, Mariacarla and Ebert, Hans-Peter and Knopp, Kevin and Shandy, Amir}, title = {Non-contact detection of the adhesive properties of ceramic coatings for high temperature applications using infrared thermography; Transactions}, publisher = {SMiRT-26}, address = {Berlin/Potsdam}, language = {en} } @article{KnoppShandyManaraetal., author = {Knopp, Kevin and Shandy, Amir and Manara, Jochen and Vidi, Stephan and Hartmann, J{\"u}rgen}, title = {Metrologische Apparaturen zur Messung thermophysikalischer Materialeigenschaften bei sehr hohen Temperaturen im EU-Projekt Hi-TRACE}, series = {FHWS Science Journal}, volume = {5}, journal = {FHWS Science Journal}, number = {2}, issn = {2196-6095}, url = {http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:863-opus-20046}, pages = {83 -- 92}, abstract = {Industriezweige wie die Glas-Industrie, die Kraftwerkstechnik sowie die Luft- und Raumfahrttechnik m{\"u}ssen kontinuierlich neue Methoden entwickeln, sowie bestehende Verfahren optimieren, um in ihren Bereichen wettbewerbsf{\"a}hig zu sein bzw. neue Anforderungen an Umwelt- und Klimaschutz zu erf{\"u}llen. Dies beinhaltet oft die Entwicklung neuer Materialien, die leichter zu fabrizieren sind und sowohl mechanisch als auch thermisch h{\"o}heren Belastungen standhalten. F{\"u}r die genannten Industriezweige sind Prozesse mit hohen Betriebstemperaturen bis zu 3.000 °C kennzeichnend und damit ist die Kenntnis von Materialeigenschaften bei diesen extremen Temperaturen von großer Bedeutung. Auch wenn es bereits einige Messapparaturen f{\"u}r die Bestimmung von thermophysikalischen Materialdaten bei hohen Temperaturen gibt, muss die R{\"u}ckf{\"u}hrung dieser auf die SI Basiseinheiten gew{\"a}hrleistet werden, um die Zuverl{\"a}ssigkeit der gemessenen Daten f{\"u}r die Anforderung der genannten Branchen sicherzustellen. Diese Aufgabe ist das Ziel des EMPIR-(European Metrology Programme for Innovation and Research) Projektes Hi-TRACE [1]. Hi-TRACE zielt darauf ab, Referenzapparaturen und neue Methoden f{\"u}r die Messung von thermophysikalischen Materialeigenschaften, (thermische Diffusivit{\"a}t, spezifische W{\"a}rme, Emissionsgrad und Schmelztemperatur) sowie der Haftung von Schichten {\"u}ber 1.000 °C zu bestimmen.}, language = {de} }