TY - JOUR A1 - Schmitt, Robert A1 - Dietrich, Björn A1 - Hafner, Philip A1 - Engelmann, Bastian T1 - Messstrategien für die zerstörungsfreie Schichtmessung mittels Ultraschallmikroskopie Strategies for the Non-Destructive Characterization of Thin Layers with Scanning Acoustic Microscopy T2 - tm - Technisches Messen Y1 - 2008 UR - https://opus4.kobv.de/opus4-fhws/frontdoor/index/index/docId/3873 VL - 75 IS - 11 SP - 577 EP - 585 ER -