Weitsicht durch Analyse : das Technologie-Roadmapping profitiert von der Patentanalyse als Informationsquelle

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Metadaten
Author:Dieter Specht, Christian MiekeGND
ISSN:0947-9546
Parent Title (German):In: Wissenschaftsmanagement 10 (2004) 3, S. 21-25
Document Type:Article
Language:German
Year of Publishing:2004
Date of Publication (online):2014/02/04
Release Date:2014/02/04
First Page:21
Last Page:25
University Bibliography:Hochschulbibliographie
Licence (German):Creative Commons - Namensnennung, Nicht kommerziell, Keine Bearbeitung