Spectroscopy and microscopy analysis of semiconductor lasers in student laboratories
Author: | Klaus-Peter MöllmannGND, Martin Regehly, Michael VollmerGND |
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DOI: | https://doi.org/10.1088/1361-6404/ab5075 |
Parent Title (English): | European Journal of Physics |
Publisher: | Institute of Physics Publishing (IOP); European Physical Society |
Document Type: | Article |
Language: | English |
Year of Publishing: | 2020 |
Date of Publication (online): | 2020/02/04 |
Publishing Institution: | Technische Hochschule Brandenburg |
Release Date: | 2020/02/04 |
Volume: | 41 |
Issue: | 2 |
First Page: | 025302 |
Institutes: | Fachbereich Technik |
Dewey Decimal Classification: | Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Angewandte Physik |
University Bibliography: | Hochschulbibliografie |
Licence (German): | Keine Nutzungslizenz vergeben - es gilt das deutsche Urheberrecht |