TY - JOUR A1 - Specht, Dieter A1 - Mieke, Christian T1 - Weitsicht durch Analyse : das Technologie-Roadmapping profitiert von der Patentanalyse als Informationsquelle T2 - In: Wissenschaftsmanagement 10 (2004) 3, S. 21-25 Y1 - 2014 UR - https://opus4.kobv.de/opus4-fhbrb/frontdoor/index/index/docId/791 SN - 0947-9546 SP - 21 EP - 25 ER -