Characterization of Micro- and Nanometer Resolved Technical Surfaces with Function-oriented Parameters
Charakterisierung von Mikro- und Nanometer aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Please always quote using this URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus-36736
- The structural properties of technical surfaces become more important in the applications of micro and nanotechnology. The possible relationships between geometrical properties of technical surfaces and their functional behavior are commonly investigated by functional tests. Although functional tests may provide correlations between the measured variable and the functional behavior of products, available information is not always sufficient to understand reasons for the lack of functionality and they are not always enough to control manufacturing processes. New approaches are required to evaluate measurement results in a function-oriented way. In this thesis, based on the analysis ofThe structural properties of technical surfaces become more important in the applications of micro and nanotechnology. The possible relationships between geometrical properties of technical surfaces and their functional behavior are commonly investigated by functional tests. Although functional tests may provide correlations between the measured variable and the functional behavior of products, available information is not always sufficient to understand reasons for the lack of functionality and they are not always enough to control manufacturing processes. New approaches are required to evaluate measurement results in a function-oriented way. In this thesis, based on the analysis of technical functions and description of surfaces with parameters, the informative value of measurement results is investigated. Moreover, surfaces are characterized with function-oriented parameters to predict the behavior of products. The scientific method is described in a general way but its application is shown in a case study. In order to verify the proposed methodology, the wettability of technical surfaces is investigated and it is characterized with function-oriented parameters.…
- In der Anwendung der Mikro- und Nanotechnologie nehmen die Struktureigenschaften der technischen Oberflächen immer mehr an Bedeutung zu. Der fehlende Zusammenhang zwischen den geometrieorientierten Eigenschaften der technischen Oberflächen und ihrer Funktionserfüllung wird hauptsächlich durch Funktionsprüfungen ausgeglichen. Funktionsprüfungen bieten zwar eine optimale Korrelation zwischen der Messgröße und der Bauteilfunktion, erlauben jedoch keine Aussage über die Ursache mangelnder Funktionsfähigkeit bzw. geben keine für die Fertigungslenkung notwendigen Informationen. Hier fehlen bisher Ansätze für die Bewertung der funktionsbezogenen Aussagesicherheit von Ergebnissen. In derIn der Anwendung der Mikro- und Nanotechnologie nehmen die Struktureigenschaften der technischen Oberflächen immer mehr an Bedeutung zu. Der fehlende Zusammenhang zwischen den geometrieorientierten Eigenschaften der technischen Oberflächen und ihrer Funktionserfüllung wird hauptsächlich durch Funktionsprüfungen ausgeglichen. Funktionsprüfungen bieten zwar eine optimale Korrelation zwischen der Messgröße und der Bauteilfunktion, erlauben jedoch keine Aussage über die Ursache mangelnder Funktionsfähigkeit bzw. geben keine für die Fertigungslenkung notwendigen Informationen. Hier fehlen bisher Ansätze für die Bewertung der funktionsbezogenen Aussagesicherheit von Ergebnissen. In der vorliegenden Arbeit wird untersucht, inwieweit die Aussagefähigkeit der Messergebnisse über die Funktionserfüllung von Mikrotopographien durch die Untersuchung technischer Funktionen und der Beschreibung der Oberflächenstrukturen mit funktionsorientierten Kenngrößen verbessert wird. Die wissenschaftlichen Grundlagen werden allgemein beschrieben und in einem Anwendungsfall exemplarisch realisiert. Zur Verifizierung der vorgeschlagenen Methodik wird die Benetzbarkeit der technischen Oberflächen mit Hilfe von funktionsorientierten Kenngrößen charakterisiert.…
Author: | Özgür Tan |
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Persistent identifiers - URN: | urn:nbn:de:bvb:29-opus-36736 |
Advisor: | Albert Weckenmann |
Document Type: | Doctoral Thesis |
Language: | English |
Year of publication: | 2012 |
Publishing Institution: | Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU) |
Granting institution: | Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Technische Fakultät |
Acceptance date of the thesis: | 2012/10/02 |
Release Date: | 2012/11/14 |
Tag: | Fertigungsmesstechnik; ISO 25178; Oberflächenmesstechnik; Optische Messtechnik; Siemens-Star ISO 25178; Siemens-Star; Surface metrology; manufacturing metrology; optical metrology |
SWD-Keyword: | Optische Messung; Fertigungsmesstechnik |
Institutes: | Technische Fakultät / Technische Fakultät -ohne weitere Spezifikation- |
Dewey Decimal Classification: | 6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 60 Technik / 600 Technik, Technologie |
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