Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion
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Diss. Reihe Fertigungstechnik, Band 203
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This paper shows new possibilities of coping with diverse challenges in the field of electronic production.It focuses on permanent measuring data acquisition during reliability tests and adjusted test procedures for decentralized electronics. Furthermore it presents a new measuring procedure for the analysis of soldering processes in rework.
Abstract
Die Arbeit zeigt neue Möglichkeiten bei der Bewältigung der vielfältigen Herausforderungen in der Elektronikproduktion auf. Im Mittelpunkt steht dabei eine permanente Messdatenüberwachung während Zuverlässigkeitsuntersuchungen, bei angepassten Prüfungen für dezentrale Elektronik und bei einem neuen Messverfahren für die Analyse der Lötprozesse in der Nacharbeit.