Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden

The influence of voids on the reliability of solder joints of high power LEDs

Please always quote using this URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749
  • Um das gesamte Wertschöpfungspotenzial von LEDs ausnutzen zu können und einen vorzeitigen Ausfall zu vermeiden, ist eine qualitativ hochwertige Fügeverbindung zwischen LED und Substrat unabdingbar. In dieser Arbeit wird der Einfluss von Poren in Lötverbindungen auf die Zuverlässigkeit von Hochleistungs-Leuchtdioden mittels thermo-mechanischer und mechanischer Zuverlässigkeitstests sowie FEM-Simulationen untersucht.
  • A high-quality joint between LED and substrate is mandatory to take advantage of the whole potential of LEDs and to avoid premature failures. In this thesis the influence of voids in solder joints on the reliability of high power LEDs is investigated with thermo-mechanical and mechanical reliability tests as well as FEM simulations.

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Metadaten
Author:Miriam Rauer
Persistent identifiers - URN:urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749
Persistent identifiers - DOI:https://doi.org/10.25593/978-3-96147-157-7
ISBN:978-3-96147-158-4
Series (Volume number):FAU Studien aus dem Maschinenbau (313)
Publisher:FAU University Press
Place:Erlangen
Editor:Jörg Franke, Nico Hanenkamp, Marion Merklein, Michael Schmidt, Sandro Wartzack
Referee:Jörg Franke, Randolf Hanke, Michael Kaloudis
Advisor:Jörg Franke
Document Type:Doctoral Thesis
Language:German
Year of publication:2018
Date of online publication (Embargo Date):2019/02/18
Publishing Institution:FAU University Press
Granting institution:Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Technische Fakultät
Acceptance date of the thesis:2018/01/09
Release Date:2019/02/20
Tag:Lastwechseltest; Poren; SAC105-Lotlegierung; Temperaturschocktest
SWD-Keyword:Verbindungstechnik; Lötverbindung; Zuverlässigkeit; Leuchtdioden; Computertomographie; Ingenieurwissenschaften; Maschinenbau; Produktionstechnik
Length/size:xii, 209 Seiten
Notes:
Parallel erschienen als Druckausgabe bei FAU University Press, ISBN: 978-3-96147-157-7
Original publication:mb.fau.de/diss
Institutes:Technische Fakultät / Department Maschinenbau
Technische Fakultät / Department Maschinenbau / Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS)
Dewey Decimal Classification:6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 60 Technik / 600 Technik, Technologie
6 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / 62 Ingenieurwissenschaften / 620 Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
open_access (DINI-Set):open_access
Collections:Universität Erlangen-Nürnberg / FAU University Press
Licence (German):Creative Commons - CC BY-NC - Namensnennung - Nicht kommerziell 4.0 International
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