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Run-time redundancy management of processor functional units for mixed-critical scenarios

Laufzeit-Redundanzmanagement von Prozessor-Funktionseinheiten für gemischtkritische Szenarien

  • Since electronics started to scale down, a growing concern about the reliability of these electronic devices has emerged. At the same time, the increased demand for high performance within the safety- and mixed-critical domains, such as the aerospace and automotive industry, motivated a shift from previous consolidated and mature technology to the new cutting edge devices with smaller feature sizes. Therefore, there is a need to improve the fault tolerance of these high-end devices so that minimum failure rates can be obeyed. Although redundancy has been a great solution for these problems, their drawbacks such as power and area overheads must be watched carefully, so that per-unit price does not extrapolate affordable limits, and the redundancy does not add more sources of error than it improves the fault tolerance. This thesis proposes an approach for run-time management of redundancy among the processor internal Functional Units (FUs) within mixed-critical scenarios, tackling the compensation of the trade-offs betweenSince electronics started to scale down, a growing concern about the reliability of these electronic devices has emerged. At the same time, the increased demand for high performance within the safety- and mixed-critical domains, such as the aerospace and automotive industry, motivated a shift from previous consolidated and mature technology to the new cutting edge devices with smaller feature sizes. Therefore, there is a need to improve the fault tolerance of these high-end devices so that minimum failure rates can be obeyed. Although redundancy has been a great solution for these problems, their drawbacks such as power and area overheads must be watched carefully, so that per-unit price does not extrapolate affordable limits, and the redundancy does not add more sources of error than it improves the fault tolerance. This thesis proposes an approach for run-time management of redundancy among the processor internal Functional Units (FUs) within mixed-critical scenarios, tackling the compensation of the trade-offs between fault-tolerance, power consumption, hardware usage (ageing), and hardware area (cost). With these objectives in mind, this thesis presents a concept for a dynamic processor architecture capable to enable and disable redundancy of FUs on-demand, and a software mechanism for criticality-aware management of these units for mixed-critical processes within an Operating System (OS). For this purpose, a processor design was extended with a few additional instructions that enabled different replication schemes in the processor at run-time. Furthermore, a compatible Real-Time Operating System (RTOS) is also extended to enable the desired criticality-aware management of units. Evaluating the implemented test platform when the extended processor was running bare-metal code, the latency to shift between different replication schemes was of only one instructions cycle. Furthermore, when the processor was running the adapted RTOS, the run-time overhead over the latency to switch between processes remained below 2.5%. Meanwhile, resulting from the processor extensions, the hardware overhead remained smaller than standard full core replication schemes such as core lock-step approaches. Regarding fault tolerance, the expected failure rate of the FUs module decreased by approximately 80% when its FUs were configured with Triple Modular Redundancy (TMR). Furthermore, when considering the whole area of the processor core, its respective failure rate decreased by about 15% when configured these units with the same triplication scheme. Finally, it is also presented that the run-time management of FUs was likewise able to decrease the power consumption and hardware ageing for the proposed mixed-critical scenario. After all, we can say that the concept can increase fault tolerance on-demand of a processor design with moderately low hardware overhead, while it also minimises the power consumption and hardware usage (ageing) for its intended mixed-critical scenario.show moreshow less
  • Seit die Elektronik immer kleiner wird, ist eine wachsende Besorgnis über die Zuverlässigkeit dieser elektronischen Geräte entstanden. Gleichzeitig motivierte die gestiegene Nachfrage nach hoher Leistung in sicherheits- und gemischt kritischen Bereichen wie der Luft- und Raumfahrt und Automobilindustrie zu einer Umstellung von früher konsolidierter und ausgereifter Technologie auf die neuen Spitzengeräte mit kleineren Strukturgrößen. Daher muss die Fehlertoleranz dieser High-End-Geräte verbessert werden, damit minimale Ausfallraten eingehalten werden können. Obwohl Redundanz eine großartige Lösung für diese Probleme ist, müssen ihre Nachteile wie Energie- und Flächen-Overhead sorgfältig beobachtet werden, damit der Preis pro Einheit nicht erschwingliche Grenzen extrapoliert und die Redundanz nicht mehr Fehlerquellen hinzufügt, als sie verbessert Fehlertoleranz. Vor diesem Hintergrund stellt diese Arbeit ein Konzept für eine dynamische Prozessorarchitektur vor, die in der Lage ist, die Redundanz von FunktionseinheitenSeit die Elektronik immer kleiner wird, ist eine wachsende Besorgnis über die Zuverlässigkeit dieser elektronischen Geräte entstanden. Gleichzeitig motivierte die gestiegene Nachfrage nach hoher Leistung in sicherheits- und gemischt kritischen Bereichen wie der Luft- und Raumfahrt und Automobilindustrie zu einer Umstellung von früher konsolidierter und ausgereifter Technologie auf die neuen Spitzengeräte mit kleineren Strukturgrößen. Daher muss die Fehlertoleranz dieser High-End-Geräte verbessert werden, damit minimale Ausfallraten eingehalten werden können. Obwohl Redundanz eine großartige Lösung für diese Probleme ist, müssen ihre Nachteile wie Energie- und Flächen-Overhead sorgfältig beobachtet werden, damit der Preis pro Einheit nicht erschwingliche Grenzen extrapoliert und die Redundanz nicht mehr Fehlerquellen hinzufügt, als sie verbessert Fehlertoleranz. Vor diesem Hintergrund stellt diese Arbeit ein Konzept für eine dynamische Prozessorarchitektur vor, die in der Lage ist, die Redundanz von Funktionseinheiten (“Functional Units”, FUs) bei Bedarf zu aktivieren und zu deaktivieren, sowie einen Softwaremechanismus zur kritikalitätsbewussten Verwaltung dieser Einheiten für gemischt kritische Prozesse innerhalb eines Betriebssystems (“Operating System”, OS). Dazu wurde ein Prozessordesign um einige zusätzliche Anweisungen erweitert, die zur Laufzeit unterschiedliche Replikationsschemata im Prozessor ermöglichen. Darüber hinaus wird auch ein kompatibles Echtzeit-Betriebssystem (“Real-Time Operating System”, RTOS) erweitert, um die gewünschte kritikalitätsbewusste Verwaltung von Einheiten zu ermöglichen. Die Rekonfiguration des Prozessors erfordert nur einen Befehlszyklus, der gesamte zusätzliche overhead für den Prozesswechsel beträgt weniger als 2,5%. In der Zwischenzeit blieb der Hardware-Overhead aufgrund der Prozessorerweiterungen kleiner als bei standardmäßigen vollständigen Kernreplikationsschemata, wie z. B. Core-Lock-Step-Ansätzen. In Bezug auf die Fehlertoleranz verringerte sich die erwartete Ausfallrate des FU-Moduls um etwa 80%, wenn es mit Dreifacher Modularer Redundanz (“Triple Modular Redundancy”, TMR) konfiguriert wurde. Darüber hinaus verringerte sich bei Betrachtung der gesamten Fläche des Prozessorkerns die jeweilige Ausfallrate um etwa 15%, wenn die Einheiten mit demselben Verdreifachungsschema konfiguriert wurden. Abschließend wird auch dargestellt, dass das Laufzeitmanagement von FUs den Stromverbrauch und die Hardwarealterung für das vorgeschlagene gemischt-kritische Szenario ebenfalls verringern konnte. Schließlich können wir sagen, dass das Konzept die Fehlertoleranz eines Prozessordesigns mit mäßig niedrigem Hardware-Overhead bei Bedarf erhöhen kann, während es auch den Stromverbrauch und die Hardwarenutzung (Alterung) für das beabsichtigte gemischt-kritische Szenario minimiert.show moreshow less

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Metadaten
Author: Raphael Segabinazzi FerreiraORCiD
URN:urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-58886
DOI:https://doi.org/10.26127/BTUOpen-5888
Referee / Advisor:Prof. Dr.-Ing. Jörg Nolte, Prof. Dr.-Ing. Heinrich T. Vierhaus, Prof. Dr. Fabian VargasORCiD
Document Type:Doctoral thesis
Language:English
Year of Completion:2022
Date of final exam:2022/04/14
Release Date:2022/05/05
Tag:Gemischtkritische Szenarien; Laufzeit; Redundanz
Fault-tolerance; Mixed-critical scenario; Redundancy; Run-time
GND Keyword:Fehlertoleranz; Redundanz; Funktionseinheit; Mikroprozessor; Laufzeit
Institutes:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Verteilte Systeme und Betriebssysteme
Licence (German):Keine Lizenz vergeben. Es gilt das deutsche Urheberrecht.
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