TY - THES A1 - Koal, Tobias T1 - Effiziente Auswahl redundanter Komponenten für Prozessoren zur Kompensation permanenter Fehler T1 - Efficient redundancy selection for processor components to compensate permanent faults N2 - Die stetige Skalierung von Fertigungstechnologien sorgte für einen rasanten Anstieg der Komplexität und damit auch der Verarbeitungsleistung von integrierten Schaltungen. Dies führte auch zu höheren Anforderungen an die Entwurfs- und Produktionsprozesse für diese Systeme. Zusätzlich dazu steigern Strukturen im Nanometerbereich die Anfälligkeit gegenüber physikalischen Effekten, welche sich in temporären und zunehmend auch dauerhaften Störungen der Funktionalität äußern können. Der Einsatz von Fehlertoleranz ist für diese komplexen Systeme nicht wegzudenken und wird für zukünftige anfälligere Fertigungstechnologien noch relevanter. In dieser Arbeit wird eine skalierbare Architektur zur Kompensation dauerhafter Störungen für beliebige Prozessorkomponenten vorgestellt. Der Einsatz dieser Architektur ist unabhängig von der Fehlerursache und kann sowohl direkt nach der Produktion als auch während des Einsatzes im Zielsystem genutzt werden. Durch die Verwendung dieser Architektur, auf aktiver Hardware-Redundanz basierend, ist eine Steigerung der Zuverlässigkeit, der Lebensdauer aber auch der Produktionsausbeute bei gleichbleibender Funktionalität möglich. Mit der Modellierung in dieser Arbeit wird die Effizienz der vorgestellten Architektur, unter Berücksichtigung der zusätzlichen Hardware für Redundanz und der notwendigen administrativen Komponenten, ermittelt und ermöglicht damit einen zielgerichteten Auswahlprozess für Prozessorkomponenten und die Menge ihrer Redundanz. Somit wird die optimale Redundanz für ein gegebenes System und ein zu erreichendes Ziel bereits im Entwurfsprozess bestimmtund kann damit frühzeitig bei der Umsetzung berücksichtigt werden. Neben der Beschreibung des Aufbaus der Architektur und ihrer Funktionsweise zeigt diese Arbeit wie sich eine Integration in bestehende Entwurfsprozesse mit gängigen Methoden und Werkzeugen realisieren lässt. Zusätzlich dazu wird die Systemmodellierung zur Realisierung des zielgerichteten Auswahlprozesses beschrieben. Anhand eines Anwendungsbeispiels wird die Möglichkeit der Umsetzung aufgezeigt und die daraus resultierenden Ergebnisse diskutiert. N2 - Steadily downscaling of production technologies led to a rapid increase in complexity and computing power of integrated circuits. This development raises also the requirements of design- and production processes of those systems. Structures in the nanometer regime enhance the susceptibility against physical effects, which can cause temporal and evermore also permanent faults. The usage of fault tolerance became essential for those complex systems and will be even more crucial in future technologies. This thesis presents a scalable hardware architecture for permanent fault compensation in arbitrary processor components. The utilization of this architecture is independent to the fault cause and is therefore suitable for fault compensation after production as well as in the field. Through the application of this architecture, based on active hardware redundancy, a gain in reliability, mean-lifetime and production yield is possible, while functionality is not degraded. System modeling in this thesis enables efficiency calculations for the presented architecture considering the additional hardware for redundancy and their administrative components. Therefore an efficient selection process for processor components and their amount of redundancy is possible. Consequently, the optimal amount of redundancy for a preexisting system and an objective to achieve can be calculated and is furthermore available early in the design process. Towards describing structure as well as functionality of the architecture this thesis show that the integration in existing design processes with usual methods and tools is possible. The used system modeling, which realizes the redundancy selection process, is described as well. Finally, an application example is used to exhibit the practicability of the presented approach. The resulting efficiency and the required costs of this approach for the chosen example are discussed, too. KW - Zuverlässigkeit KW - Lebensdauer KW - Integrierte Schaltungen KW - Eingebaute Selbstreparatur KW - Redundanz KW - Reliability KW - Lifetime KW - Integrated circuits KW - Built-in self-repair KW - Redundancy KW - Integrierte Schaltung KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz KW - Fehleranalyse Y1 - 2014 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-30687 ER -