TY - THES A1 - Vogel, Elisabeth T1 - Analyse von EM-Kartographie als Mittel zur Bestimmung von Leakage-Quellen sowie des Effektes geeigneter Gegenmaßnahmen T1 - Analysis of EM-Cartography as a mean to find leakage sources and the effect of suitable countermeasures N2 - The Internet of Things (IoT) and Wireless Sensor Networks (WSNs) are essential for today's global information society, relying on small wireless devices for networking. When these devices' functionalities or data are manipulated, the potential damage is significant. Hence, securing data transmission between these devices using cryptography is crucial. However, the security of cryptographic algorithms depends on the secrecy of cryptographic keys, which can be vulnerable due to physical accessibility. Side-channel analysis attacks can exploit this vulnerability by using physical parameters associated with the operation of cryptographic chips, such as electromagnetic radiation during cryptographic operations. In response to this challenge, the Leakage Source Cartography Tool (LSC-Tool) was developed in this thesis to expedite the analysis of electromagnetic radiation in IHP's elliptic curve cryptography designs. The LSC-Tool enables automated evaluation of sets of electromagnetic traces, obtained from different measurement positions across a cryptographic chip. The analysis results in a leakage source map (LS-map) that displays the success of electromagnetic analysis attacks at each measurement point. This tool offers a cost-effective and rapid means to assess the resistance of cryptographic designs against attacks, providing designers with insights into the most vulnerable areas of the chip and information about leakage per clock cycle. By applying the LSC-Tool, the resistance of two IHP ECC designs against horizontal differential electromagnetic analysis attacks was tested across 25 measurement positions. The statistical analysis of traces can be conducted using three methods: the least squares method, the difference-of-means-test, or the difference-of-the-mean method. The generated LS-maps show that using different methods yields distinct leakage source indications. Combining these maps enhances the attack's success rate. Notably, during this research, it became evident that the LSC-Tool could be adapted to create LS-maps for the functional blocks of ECC designs, enabling the analysis of simulated power traces for IHP ECC designs. N2 - Das Internet der Dinge (IoT) und drahtlose Sensor-Netzwerke (WSNs) sind grundlegende Konzepte für die Vernetzung der heutigen globalen Informationsgesellschaft, die auf kleinen drahtlosen Geräten basiert. Wenn die Funktionalitäten oder Daten dieser Geräte manipuliert werden, kann der potenzielle Schaden erheblich sein. Daher ist die Sicherung der Datenübertragung zwischen diesen Geräten mithilfe von Kryptografie entscheidend. Die Sicherheit kryptografischer Algorithmen hängt jedoch von der Geheimhaltung der kryptografischen Schlüssel ab, die aufgrund der physischen Zugänglichkeit anfällig sein können. Side-Channel-Angriffe können diese Anfälligkeit ausnutzen, indem sie physikalische Parameter nutzen, die mit dem Betrieb kryptografischer Chips verbunden sind, wie z. B. die elektromagnetische Strahlung während kryptografischer Operationen.Als Antwort auf diese Herausforderung wurde in dieser Arbeit das "Leakage Source Cartography Tool" (LSC-Tool) entwickelt, um die Analyse der elektromagnetischen Strahlung in den elliptischen Kurvenkryptografie-Designs des IHP zu beschleunigen. Das LSC-Tool ermöglicht die automatisierte Auswertung von Sätzen von elektromagnetischen Traces, die aus verschiedenen Messpositionen über einen kryptografischen Chip gewonnen wurden. Die Analyse führt zu einer "Leakage Source Map" (LS-Map), die den Erfolg von elektromagnetischen Analyseangriffen an jeder Messposition darstellt. Dieses Tool bietet eine kostengünstige und schnelle Möglichkeit, die Widerstandsfähigkeit kryptografischer Designs gegen Angriffe zu bewerten, und bietet Designern Einblicke in die anfälligsten Bereiche des Chips sowie Informationen über den Leakage pro Taktzyklus.Durch den Einsatz des LSC-Tools wurde der Widerstand von zwei IHP ECC-Designs gegen horizontale differentielle elektromagnetische Analyseangriffe an 25 Messpositionen getestet. Die statistische Analyse von Traces kann mit drei Methoden durchgeführt werden: der Methode der kleinsten Quadrate, dem Difference-of-means-Test oder der Difference-of-the-mean-Methode. Die generierten LS-Maps zeigen, dass die Verwendung unterschiedlicher Methoden unterschiedliche Anzeichen für Leakagestellen liefert. Die Kombination dieser Karten erhöht die Erfolgsrate des Angriffs. Beachtenswert ist, dass im Laufe dieser Forschung klar wurde, dass das LSC-Tool angepasst werden kann, um LS-Maps für die funktionellen Blöcke von ECC-Designs zu erstellen und so die Analyse simulierter Power-Traces für das IHP ECC-Designs zu ermöglichen. KW - EM-Kartographie KW - Elliptische Kurven KW - Power Analysis Angriffe KW - Seitenkanalattacke KW - Fehleranalyse KW - Kryptosystem KW - Elektromagnetische Strahlung KW - Elliptische Kurve KW - Side-channel-analysis KW - Countermeasures KW - Power analysis Y1 - 2018 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-64545 ER - TY - THES A1 - Misera, Silvio André T1 - Simulation von Fehlern in digitalen Schaltungen mit SystemC T1 - Simulation of faults in digital hardware with SystemC N2 - Elektronische Systeme sind in vielen Bereichen des täglichen Lebens zur Selbstverständlichkeit geworden. Dabei werden diese zunehmend komplexer und leistungsfähiger. Für den Entwurf entstehen dadurch Herausforderungen, die z. B. zunehmend mit Hilfe von SystemC gelöst werden. SystemC, eine C++- Klassenbibliothek, erlaubt die Modellierung von Hardwarekomponenten in einer Programmiersprache, wie sie zuvor nur mittels spezieller Hardwarebeschreibungssprachen möglich war. Die Simulation des Systems im Zusammenhang mit Fehlererscheinungen ist ein wichtiger Schritt für den Zuverlässigkeitsnachweis. Für die Simulation von Fehlern ergeben sich dabei im wesentlichen zwei Einsatzbereiche. Zum einen ist es die Fehlersimulation, welche Testmuster hinsichtlich ihrer Effektivität für den Produktionstest beurteilt. Zum anderen dient sie, häufig als simulierte Fehlerinjektion bezeichnet, dem Nachweis der Fehlertoleranz oder des Systemverhaltens im Betrieb. In dieser Arbeit werden erstmals verschiedene Aspekte und Strategien zur Simulation von Fehlern in digitalen Schaltungen als SystemC-Beschreibungen methodisch untersucht. Vorteile mit der Verwendung von SystemC bestehen z. B. in der Verwendung eines einheitlichen Beschreibungsmittels in einem durchgängigen Ablauf und in der Möglichkeit einer schnellen Ausführung. Voraussetzung für die Simulation von Hardware ist eine entsprechende Modellierungsmöglichkeit. Neben der Betrachtung der Register-Transfer- und Gatterebene wird eine neue Modellierung auf der Schalterebene präsentiert. Der Vorteil liegt hierbei in einer höheren Auflösung bei einer akzeptablen Geschwindigkeitseinbuße, wie sie insbesondere bei der Simulation von Fehlern sinnvoll ist. Bei der Modellierung der Fehler wurden neben dem klassischen Haftfehlermodell weitere Modelle kreiert, die Defekte und Störungen realitätsnäher abbilden. Die Injektion der Fehler in die Hardware-Beschreibung erfolgt mit Hilfe verschiedener Strategien. Neben der Umsetzung von Methoden, wie sie aus anderen Hardwarebeschreibungssprachen bekannt sind, werden weitere Wege in SystemC gezeigt. Hierbei nutzt man spezielle Eigenschaften der Sprache C++ und des SystemC-Kernels. Ergebnis dieser Techniken ist eine Modifikation der SystemC-Bibliothek, die zu einer sehr effizienten Fehlerinjektion führt. Bei der Einführung neuer Entwurfswerkzeuge entsteht oft das Problem der Portierung des bestehenden Know-hows. Eine Alternative kann die Kopplung von bestehenden und neuen Simulationsprogrammen sein. Probleme solcher gekoppelten Simulationen liegen z. B. im zusätzlichen Kommunikationsaufwand und der Synchronisation, welche die Ausführungszeit oft deutlich erhöhen. Die hier präsentierte Mixed-Language-Co-Simulation in Form einer Thread-Implementierung und einer weiteren Modifikation der SystemC-Bibliothek erweist sich aber als sehr effizient im Vergleich zu anderen Co-Simulationen. Eine wesentliche Herausforderung für Simulationsaufgaben besteht in ihren Ausführungen in einer akzeptablen Zeit. Es werden verschiedene Implementierungen der beschleunigten Simulation präsentiert. Dabei kommen unterschiedliche Ebenen der Parallelisierung zur Verwendung und zur Untersuchung in Bezug auf ihre Performance. Eine Kombination verschiedener Methoden führt zu einer zusätzlichen Verbesserung. Mit dieser Arbeit wird gezeigt, dass die Simulation von Fehlern in Hardware mit SystemC praktikabel und sinnvoll ist. Anhand von Simulationen und Bewertungen an Beispielschaltungen wird dies unterstrichen. N2 - Electronic systems can be found in many areas of the everyday life. These systems increase in their complexity and performance. Thereby, the design process gets new challenges. For example, these challenges are solved by the usage of SystemC. SystemC is a C++ language class library which allows the modeling of hardware behaviour in a programming language for software. A hardware description language was necessary to model such cases in the past. The simulation of faults has two operation areas. At first, there is the fault simulation for the validation of test patterns for fabrication faults. At second, there is the simulated fault injection that investigates the occurrences of faults in operation. Different aspects and strategies of the simulation of faults in digital circuits are shown in a methodical way in this thesis. Advantages with the usage of SystemC are an integrative design description in a continuous design flow and the possibility of a faster execution, for example. An unavoidable condition is a suitable modeling for the simulation of the hardware. Beyond the view at the register-transfer level and the gate level, there is introduced a new modeling in SystemC at the switch level. The advantage of this is a better accuracy for the simulation of faults with an acceptable loss in speed. Beside the classical stuck-at fault model there were additional fault models implemented. These models get to a more realistic behaviour of defects and disturbances. The fault injections take place in different manners within the hardware descriptions. Beside the strategies which are known from other hardware description languages there are furthers techniques depicted for the SystemC methodology. Special properties of the C++ language and the SystemC kernel are used for theses new methods. The result of these techniques is a modified SystemC library which leads to an efficient fault injection. It arises often the problem of transferring existing know-how with the implementation of new design tools. An alternative is the coupling of the existing and the new simulation programs. But such approaches have often the problem that the additional effort for the communication and the synchronization is very high. This leads to much longer simulation times. The presented approach here is a thread implementation with a modified SystemC library. This approach is more efficient in comparison to other co-simulations. Another important challenge of simulation tasks are the executing in an acceptable time. Different ways of accelerated simulations are shown. In general, they use several layers of parallelism and are investigated regarding to their efficiency. A miscellaneous combination of the methods brings further improvements. In this thesis is shown that the simulation of faults which occur in hardware is feasible and it is efficient. It is underlined by the simulations of several examples. KW - Digitalschaltung KW - SystemC KW - Fehlererkennung KW - Fehlerbehandlung KW - Fehlersimulation KW - SystemC KW - Fehlersimulation KW - Fehlerinjektion KW - SystemC KW - Simulation KW - Fault injection Y1 - 2007 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-4063 ER - TY - THES A1 - Schölzel, Mario T1 - Self-testing and self-repairing embedded processors: techniques for statically scheduled superscalar architectures N2 - This thesis introduces a comprehensive approach for making a particular class of embedded processors self-testing and self-repairing, such that a limited amount of permanent hardware faults that occur during the lifetime of these processors in the field will not prohibit the functional behavior of the user application running on the processor. The presented concepts all use redundant hardware, but the techniques used for administrating the hardware-redundancy range from hardware-based methods over hybrid methods to pure software-based methods, whereby the focus is on the latter ones. The proposed methods will be demonstrated by using a processor that is well designed for diagnostic self-test and self-repair purposes. This will also highlight some architectural properties of such a processor, which are beneficial for performing a software-based self-test and self-repair process. Chapter 1 is an introduction to the field of dependable systems and fault tolerance. Fundamental terms and notations, which are used throughout this thesis for classification and evaluation, are provided. The used processor model – the VARP processor – is introduced in chapter 2 together with a hardware-based self-repair scheme for that processor. The results are used as reference values for evaluating the software-based methods. Chapter 3 introduces the fundamental concept of the software-based self-repair. In chapter 4 hybrid methods are derived by combining software-based and hardware-based methods, highlighting the synergy effects of the combination. Finally, in chapter 5, a diagnostic and adaptive software-based self-test scheme is introduced. This self-test scheme provides the diagnostic capability that is needed in the field for identifying defect components in the VARP processor and completes the comprehensive software-based self-test and self-repair approach. KW - Fault Tolerance KW - Fehlertoleranz KW - Self-Test KW - Self-Repair KW - Diagnosis KW - VLIW KW - Selbsttest KW - Selbstreparatur KW - Diagnose KW - VLIW Y1 - 2014 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-31265 ER - TY - THES A1 - Kreiser, Dan T1 - Optimierung und Erweiterung des IEEE 802.15.4a UWB-Standards für den Einsatz in Automatisierungssystemen T1 - Optimization and extension of the IEEE 802.15.4a UWB standard for usage in automation systems N2 - Der Einsatz funkbasierter Steuerungs- und Überwachungssysteme wird sich in den nächsten Jahren in der Automatisierungsindustrie wesentlich erhöhen. Funkbasierte Systeme sind flexibel, das heißt skalierbar, leicht rekonfigurierbar und mobil. Außerdem sind Funksysteme kostengünstig, insbesondere bei der Wartung. Dennoch müssen diese Systeme hohen Anforderungen genügen, wie Sicherheit, Zuverlässigkeit, Energieverbrauch, Geschwindigkeit und Wirtschaftlichkeit. Besonders wichtig für den Einsatz drahtloser Funktechnologien in Automatisierungssystemen ist die harte Echtzeitfähigkeit bei Zykluszeiten im Bereich von unter 1 ms bei Netzwerkgrößen von bis zu 127 Knoten bei einer bidirektionalen Kommunikation mit einer Nutzdatenmenge von bis zu 48 Byte je Sensorknoten. Eine weitere Herausforderung ist die Integration dieser Systeme in bestehende Infrastrukturen, wo Koexistenz mit bereits vorhandenen drahtlosen Systemen ein kritischer Faktor ist. Ziel dieser Arbeit ist es, die IR-UWB Funktechnik basierend auf dem Standard IEEE 802.15.4a so zu verbessern, dass sie die hohen Anforderungen der Automatisierungsindustrie erfüllt. Dabei soll gewährleistet werden, dass die Abweichungen im Vergleich zum Standard möglichst gering ausfallen und dass die Vorgaben der Regulierungsbehörden nicht verletzt werden. Diese Anforderungen begrenzen die Möglichkeiten der Optimierungen stark, was die Aufgabe noch schwieriger macht, aber zugleich wird damit sichergestellt, dass die Lösungen auch in realen Systemen eingesetzt werden können. In dieser Arbeit wurden sowohl komplexe theoretische Ansätze als auch Optimierungen der Implementierung ausgearbeitet, in Matlab simuliert und in einem FPGA implementiert. Anschließend wurde ein ASIC gefertigt. Um die hohen zeitlichen Anforderungen zu erfüllen, wurden die einzelnen Teile des UWB-Frames optimiert. Um dies zu erreichen mussten neue Synchronisations- und Datenübertragungs-Verfahren entwickelt werden. Dieses Verfahren ermöglicht eine parallele bidirektionale Kommunikation mit einer variablen Anzahl an Sensorknoten (bis zu 127). Eine Kombination verschiedener Fehlerkorrekturverfahren (Reed-Solomon-Code und Hamming-Code) wurde untersucht, um die Zuverlässigkeit zu erhöhen. Zusätzlich wurde ein Fehlerkorrekturverfahren für ternäre Impulssequenzen mit geringem Overhead ausgearbeitet. Dieses Verfahren erlaubt eine ausreichend gute Fehlerkorrektur und erlaubt im Gegensatz zu der Fehlerkorrektur mit dem Reed-Solomon-Code das Einhalten der zeitlichen Anforderungen. Das Hauptergebnis dieser Arbeit ist ein für IR-UWB optimiertes Übertragungskonzept, welches eine zuverlässige und energieeffiziente Datenübertragung von unter 1 ms für einen Master und 127 Slaves ermöglicht. Teile dieses Verfahrens wurden in Hardware gefertigt und experimentell evaluiert. Wenn alle vorgeschlagenen Optimierungen verwendet werden, kann die Zykluszeit im Vergleich zum IEEE 802.15.4a Standard, um 95% reduziert werden. Der Energieverbrauch des gesamten Netzwerkes sinkt dabei um 65%. Einige der vorgeschlagenen Verbesserungen wurden implementiert und für die übrigen wurde gezeigt, wie sie implementiert werden können. Der Einfluss weiterer Faktoren, wie die Umschaltzeit zwischen Sender und Empfänger, und deren Auswirkungen auf den Energieverbrauch wurden untersucht. Im Rahmen dieser Doktorarbeit entstand eine standardkonforme IR-UWB Einzelchiplösung, die um Eigenschaften erweitert wurde, die vom Standard, abweichen, aber notwendig sind um die Anforderungen der Automatisierungsindustrie zu erfüllen. Die gefertigte Variante der Einzelchiplösung enthält nicht alle in dieser Arbeit vorgeschlagenen Optimierungen, ist aber dennoch in der Lage die Zykluszeit um 57% zu verkürzen. Obwohl dieser Chip viele zusätzliche Features bietet, wurde die Komplexität und somit auch die benötigte Chipfläche um 43% reduziert. N2 - The use of radio-based systems in the automation industry will increase in the next years. Radio-based systems offer a number of advantages compared to wired systems, such as flexible network topology, mobility, and lower maintenance cost. However, such systems need to meet high standards of safety, reliability, power consumption, speed and cost. The main requirement of wireless communication in this area is the hard real-time capability with cycle times under 1 ms for a network size of up to 127 sensor nodes and a bidirectional data transmission of up to 48 bytes per sensor node. Another challenge is the integration of these systems into existing infrastructures where coexistence with already present wireless systems is a crucial point. The aim of this work is to empower IR-UWB to fulfill the demanding parameters of automation control based on the IEEE 802.15.4a standard while not violating regulations for UWB. These conditions have a serious impact on optimizations that can be done making this endeavor even more demanding, but ensuring at the same time that the solutions can be used in real systems. In this work, both complex theoretical and practical implementation approaches are elaborated. Some of these approaches were simulated in Matlab, implemented in hardware (FPGA) and an ASIC has been produced. In order to fulfill the high requirements a lot of effort was put into the reduction of the main parts of the UWB communication. To achieve this, a new synchronization method as well as new data transmission method have been developed and optimized. This new scheme supports bidirectional communication with several nodes (up to 127) in parallel. A combination of Forward-Error-Correction methods (Reed-Solomon-Code and Hamming-Code) has been investigated to increase the reliability. In addition an innovative method with a small overhead for correcting errors in pulse sequences has been developed as well. Contrary to the Reed-Solomon-Code, this method makes it possible to fulfill the timing requirements. The result of this work is an optimized transmission concept for UWB. It allows in combination with custom hardware ranging and a reliable, energy-efficient data transmission. The transmission time is less than 1 ms in a network consisting of a master and 127 slaves. If all optimizations proposed in this work are applied, the transmission time for a complete cycle can be reduced by 95% compared to the IEEE 802.15.4a standard. The energy consumption for the whole network can be reduced by 65%. Some of these improvements have been implemented and for others it is shown how they could be implemented. The impact on the energy consumption of factors like switching time between transmitter and receiver have been analyzed. In the course of this work, a single-chip solution has been developed which is compliant with IEEE 802.15.4a standard. It is optimized through some proprietary extensions regarding its potential use in the automation industry. This chip does not contain all proposed optimizations but is capable of reducing the transmission time of a cycle by 57%. Even with these additional features the complexity has been considerably reduced so that the used area could be reduced by 43%. KW - UWB KW - Synchronisierung KW - Automatisierungssystem KW - Vollduplex KW - Zuverlässig KW - IEEE.802.15.4a KW - Synchronization KW - Broadcast KW - Multicast KW - Ultraweitband KW - Synchronisierung KW - Automatisierungssystem KW - IEEE 802.15.4 Y1 - 2015 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-38703 ER - TY - THES A1 - Koal, Tobias T1 - Effiziente Auswahl redundanter Komponenten für Prozessoren zur Kompensation permanenter Fehler T1 - Efficient redundancy selection for processor components to compensate permanent faults N2 - Die stetige Skalierung von Fertigungstechnologien sorgte für einen rasanten Anstieg der Komplexität und damit auch der Verarbeitungsleistung von integrierten Schaltungen. Dies führte auch zu höheren Anforderungen an die Entwurfs- und Produktionsprozesse für diese Systeme. Zusätzlich dazu steigern Strukturen im Nanometerbereich die Anfälligkeit gegenüber physikalischen Effekten, welche sich in temporären und zunehmend auch dauerhaften Störungen der Funktionalität äußern können. Der Einsatz von Fehlertoleranz ist für diese komplexen Systeme nicht wegzudenken und wird für zukünftige anfälligere Fertigungstechnologien noch relevanter. In dieser Arbeit wird eine skalierbare Architektur zur Kompensation dauerhafter Störungen für beliebige Prozessorkomponenten vorgestellt. Der Einsatz dieser Architektur ist unabhängig von der Fehlerursache und kann sowohl direkt nach der Produktion als auch während des Einsatzes im Zielsystem genutzt werden. Durch die Verwendung dieser Architektur, auf aktiver Hardware-Redundanz basierend, ist eine Steigerung der Zuverlässigkeit, der Lebensdauer aber auch der Produktionsausbeute bei gleichbleibender Funktionalität möglich. Mit der Modellierung in dieser Arbeit wird die Effizienz der vorgestellten Architektur, unter Berücksichtigung der zusätzlichen Hardware für Redundanz und der notwendigen administrativen Komponenten, ermittelt und ermöglicht damit einen zielgerichteten Auswahlprozess für Prozessorkomponenten und die Menge ihrer Redundanz. Somit wird die optimale Redundanz für ein gegebenes System und ein zu erreichendes Ziel bereits im Entwurfsprozess bestimmtund kann damit frühzeitig bei der Umsetzung berücksichtigt werden. Neben der Beschreibung des Aufbaus der Architektur und ihrer Funktionsweise zeigt diese Arbeit wie sich eine Integration in bestehende Entwurfsprozesse mit gängigen Methoden und Werkzeugen realisieren lässt. Zusätzlich dazu wird die Systemmodellierung zur Realisierung des zielgerichteten Auswahlprozesses beschrieben. Anhand eines Anwendungsbeispiels wird die Möglichkeit der Umsetzung aufgezeigt und die daraus resultierenden Ergebnisse diskutiert. N2 - Steadily downscaling of production technologies led to a rapid increase in complexity and computing power of integrated circuits. This development raises also the requirements of design- and production processes of those systems. Structures in the nanometer regime enhance the susceptibility against physical effects, which can cause temporal and evermore also permanent faults. The usage of fault tolerance became essential for those complex systems and will be even more crucial in future technologies. This thesis presents a scalable hardware architecture for permanent fault compensation in arbitrary processor components. The utilization of this architecture is independent to the fault cause and is therefore suitable for fault compensation after production as well as in the field. Through the application of this architecture, based on active hardware redundancy, a gain in reliability, mean-lifetime and production yield is possible, while functionality is not degraded. System modeling in this thesis enables efficiency calculations for the presented architecture considering the additional hardware for redundancy and their administrative components. Therefore an efficient selection process for processor components and their amount of redundancy is possible. Consequently, the optimal amount of redundancy for a preexisting system and an objective to achieve can be calculated and is furthermore available early in the design process. Towards describing structure as well as functionality of the architecture this thesis show that the integration in existing design processes with usual methods and tools is possible. The used system modeling, which realizes the redundancy selection process, is described as well. Finally, an application example is used to exhibit the practicability of the presented approach. The resulting efficiency and the required costs of this approach for the chosen example are discussed, too. KW - Zuverlässigkeit KW - Lebensdauer KW - Integrierte Schaltungen KW - Eingebaute Selbstreparatur KW - Redundanz KW - Reliability KW - Lifetime KW - Integrated circuits KW - Built-in self-repair KW - Redundancy KW - Integrierte Schaltung KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz KW - Fehleranalyse Y1 - 2014 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-30687 ER - TY - THES A1 - Scheit, Daniel T1 - Fault-tolerant integrated interconnections based on built-in self-repair and codes T1 - Fehlertolerante integrierte Verbindungen basierend auf Selbstreparatur und Codes N2 - The reliability of interconnects on integrated circuits (IC) has become a major problem in recent years because of the rise of complexity, the low-k-insulating material with reduced stability, and wear-out-effects from high current densities. The total reliability of a system on a chip is increasingly influenced by the reliability of the interconnections, which is caused by increased communication from the elevated number of integrated functional units. In recent years, studies have predicted that static faults will occur more often decreasing the reliability and the mean time to failure. The most published solutions aim to prevent dynamic faults and to correct transient faults. However, built-in self-repair (BISR) as a solution for static faults has not previously been discussed along with the other possible solutions. Theoretically, BISR can lead to higher reliability and lifetime. This is my motivation to implement BISR for integrated interconnects. Because BISR cannot repair transient and dynamic faults, I combine BISR with other approved solutions in this thesis. The results show that the combination leads to higher reliability and lifetime with less area and static power overhead compared to the existing solutions. N2 - Die Zuverlässigkeit von Verbindungen integrierter Schaltungen (ICs) hat in den vergangenen Jahren an Bedeutung zugenommen. Dies liegt an der steigenden Komplexität der Schaltungen, an der verfrühten Alterung durch hohe Stromdichten und neuen Materialien, die zwar die Übertragungseigenschaften verbessern, aber die Zuverlässigkeit verringern. Die Chip-Zuverlässigkeit wird zunehmenden durch die Zuverlässigkeit der Leitungen beeinflusst, während der Einfluss der Logik-Zuverlässigkeit abnimmt. Dies liegt vor allem am steigenden Kommunikationsbedarf durch die steigende Anzahl integrierter Einheiten. Publikationen der letzten Jahre zeigen, dass vor allem mit einem Anstieg permanenter Fehler zu rechnen ist, welche sowohl die Zuverlässigkeit als auch die Lebensdauer verringern. Dem steht entgegen, dass die Vielzahl der Publikationen für fehlertolerante Verbindungen vor allem Lösungen für dynamische und transiente Fehler präsentieren. Der Einsatz von Selbstreparatur wurde nicht im gleichen Umfang diskutiert. Dabei kann sie zu höheren Zuverlässigkeiten hinsichtlich statischer Fehler führen. Da sich Selbstreparatur nicht für transiente Fehler und nur teilweise für dynamische Fehler eignet, wird in dieser Arbeit gezeigt, wie sich Selbstreparatur und Codes kombinieren lassen. Die Ergebnisse zeigen, dass die Kombinationen zu höheren Zuverlässigkeiten bei geringerem Schaltungsaufwand im Vergleich zu bestehenden Lösungen führen. KW - Fehlertoleranz KW - Integrierte Schaltung KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlerkorrekturcode KW - Selbstreparatur KW - Fehlerkorrektur-Codes KW - Integrierte Verbindungen KW - Built-in self-repair KW - Error correction code KW - Integrated interconnection Y1 - 2011 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus-22679 ER - TY - THES A1 - Müller, Sebastian T1 - Software-basierte Rekonfiguration in statisch geplanten Mehrkernsystemen zur Behandlung permanenter Fehler T1 - Software-Based Self-Repair of Statically Scheduled Multi-Core Systems for Handling Permanent Faults N2 - In zukünftigen eingebetteten Systemen ist bei zunehmender Integrationsdichte mit einer abnehmenden Zuverlässigkeit zu rechnen. Insbesondere lang laufende Systeme werden mit fortschreitender Zeit Alterungserscheinungen aufweisen, die sich durch den permanenten Ausfall einzelner Komponenten bemerkbar machen. Um die Funktionstüchtigkeit solcher Systeme auch für einen langen Zeitraum zu gewährleisten, sind Funktionen erforderlich, die die Erkennung, Lokalisierung und Behandlung solcher permanenter Fehler erlauben. Diese Funktionen sind dabei in das System zu integrieren. Es existieren dafür bereits verschiedene Ansätze auf unterschiedlichen Systemebenen. Das Spektrum solcher Ansätze reicht von einer Reparatur auf Transistorebene über die Reparatur einzelner Komponenten, die aus einigen dutzend bis einigen tausend Transistoren bestehen, bis hin zu Reparaturansätzen, die komplette Prozessorkerne in einem System ersetzen. Jeder Ansatz hat dabei seine spezifischen Vor- und Nachteile. Das betrifft insbesondere den Aufwand zur Administration der Reparatur sowie die Anwendbarkeit auf beliebige Hardwarestrukturen. Bisher wurden die Reparaturmethoden isoliert entwickelt. In Systemen mit zunehmender Komplexität wird jedoch ein hierarchischer Ansatz benötigt, der die existierenden Techniken ebenenübergreifend verbindet. Dadurch kann eine Zerlegung des Systems in verschiedene Gruppen vorgenommen werden, wobei für jede Gruppe eine spezifische Reparaturmethodik besonders geeignet ist. Es entsteht dadurch ein teils hierarchisch organisierter Reparaturansatz, der unterschiedliche Reparaturtechniken miteinander kombiniert. Es werden für das hierarchische Verfahren insbesondere software-basierte Reparaturansätze betrachtet, da diese nur einen geringen Administrationsaufwand in Hardware erfordern. Die Nutzung fehlerhafter Komponenten im Prozessor wird dabei durch die Anpassung des ausgeführten Programms an die aktuelle Fehlersituation vermieden. Diese Anpassung kann beispielsweise auf Systemebene, durch Verlagerung eines Programms von einem Prozessorkern auf einen anderen Kern oder auf der Ebene von Prozessorkernen, wobei die Benutzung einzelner Komponenten eines Kerns vermieden wird, erfolgen. Diese Anpassungen lassen sich durch Techniken, wie sie im Backend eines Compilers eingesetzt werden, bewerkstelligen. Die Reparatur auf den verschiedenen Ebenen erfordert dabei unterschiedlich mächtige Backends. Das reicht von einem Backend, das nur eine Ablaufplanung ändert, über ein Backend, das darüber hinaus noch die Registervergabe anpasst, bis hin zu einem Backend, das den Programmcode zweier Prozessorkerne vertauscht und an den jeweiligen Kern anpasst. Die Ausführung der software-basierten Reparatur soll dabei möglichst durch den fehlerhaften Kern selbst ausgeführt werden. In schwerwiegenden Fällen erfolgt eine administrierte Reparatur auf der Systemebene durch einen zur Reparaturzeit bestimmten Prozessorkern des Systems. Der Aufwand für entsprechende Backends sowie deren Möglichkeit zur Fehlerbehandlung werden in dieser Arbeit untersucht. N2 - Due to the shrinking feature-size of integrated circuits a lower reliability is predicted for embedded systems. The higher stress density in those circuits leads to wear-out effects, which result in a permanent fault of processor components. In order to ensure a certain quality of service for long-term systems, techniques for fault detection, localization and error handling have to be integrated into a system. Several approaches are already known for different hierarchical levels of a system. Those approaches can replace hardware structure with a size from hundred to thousands of transistors or can even exchange entire processor cores with spare-cores. Every approach has its own advantage and draw-back. The key issues are the overhead for administrating a repair and the applicability for any hardware structure of a processor. Due to the increasing complexity of modern embedded systems a hierarchical approach is required, which combines the existing techniques in one approach. This offers the possibility to separate a system into different levels. A dedicated repair method is assigned to every level of a system. This results in a hierarchical organized repair approach that combines various fault-tolerant repair methods. The developed hierarchical repair approach uses only software-based repair techniques, because the required hardware overhead for administrating a software-based repair is negligible. A permanent fault is handled by reconfiguring the application of a system in such a way that the executed tasks never use a faulty component. The reconfiguration at the core-level avoids e.g. the use of a faulty register whereas at the system-level a task is moved from a processor core to a different one. The software-based repair approach can be achieved with techniques, which are used in the back-end of a compiler. A varying set of back-ends is required for the different levels of a system. A first simple back-end adapts the scheduling of a basic block, whereas a second back-end can change the usage of registers. At the system-level a back-end is required, which adapts the program code of one core to the architecture of another core. The hierarchical repair approach is organized in such a way that a faulty core executes the software-based repair as a self-repair. In case that the self-repair fails, the repair is repeated at the system-level by an arbitrary core of the system. The thesis investigates the overhead of the software-based self-repair and the improvement of the average life-time of different fault-tolerant system configurations. KW - Zuverlässigkeit KW - Fehlertoleranz KW - Mehrkernsystem KW - Software-basierte Rekonfiguration KW - Fault-Tolerance KW - Multicore System KW - Software-based Self-Repair KW - Dependability KW - Eingebettetes System KW - Fehlertoleranz KW - Rekonfiguration Y1 - 2014 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-34916 ER - TY - THES A1 - Vater, Frank T1 - Secure Scan Chain and Debug Interface T1 - Sichere Scan Chain und Debugschnittstelle N2 - Cryptographic operations are more and more popular because unencrypted information is a security leakage in many application areas. Possible ways to get the secret key is the misuse of test and debug facilities. These interfaces allow a reading and writing access to all internals of the ASIC. Typically they are not protected against a misuse by a third party. In this thesis a new countermeasure against side channel attacks on scan chain and debug interfaces is proposed. The countermeasure for the scan chain interface, as well as the one for the debug interface, use the same approach, but every interface has its own security component. The approach designed and investigated in this thesis is based on a key matching method, which is resistant against reverse engineering. It is necessary from the user side, to test and debug the device, to write the secret key in an OTP. The “golden” key is embedded in specially designed units, which are used to compare the golden key with one provided in the OTP. After testing or the debugging, the key in the OTP is deleted. Even if this key is known to an attacker, it is not possible to rewrite the value into the OTP. The unit which contains golden key and compare logic is made of digital standard cells. The cells are not modified, but the wiring has a novelty. Small isolation elements from the analog circuit design are used to implement a “0” or a “1” as value for the golden key. The security feature is the resistance against optical reverse engineering because both types of the golden key and compare unit have the same footprint. Finally 128 of these units compose the 128 bit golden key. The scan chain solution is suitable for any IP core, independent of whether it is a standalone cryptographic component, a microcontroller or a very complex system on a chip. For the scan chain test the test pattern generated by the scan pattern generator can be used without any modification. The only requirement is that before the test, the secret key has to be written into the device, and after the test, the secret key has to be deleted. For a debug interface the same problem exists as for the scan chain interface. An access to the device is an open door for an attacker. As the debug interface is used in different development stages the approach is to implement several OTP lines - one per development stage for example. Additionally a mechanism for different access levels is offered. Depending of the access level different address spaces are unlocked. As shown in this thesis, the solutions for a secure scan and debug interface are easy to integrate into an existing design, while area, timing and power is not influenced significantly. The scan or debug process have to be changed only slightly and the test coverage is not affected and defect analysis is possible. To summarize in this thesis a novel and innovative approach to protect scan and debug interfaces against side channel attacks was designed and evaluated. N2 - Kryptografische Verfahren werden zunehmend eingesetzt, da unverschlüsselte Informationen in vielen Anwendungsbereichen ein Sicherheitsrisiko darstellen. Damit ein Dritter diese verschlüsselten Daten mitlesen oder gar manipulieren kann, muss er im Besitz des privaten Schlüssels sein. Diesen bekommt er entweder per Brute-force-Angriff oder versucht diesen mittels Seitenkanalangriff aus dem Gerät zu extrahieren. Ein möglicher Ansatz den geheimen Schlüssel zu erhalten, ist der Missbrauch von Test- und Debugschnittstellen. Diese Schnittstellen bieten einen lesenden und schreibenden Zugang zu allen internen Speichern eines ASICs und sind in der Regel uneingeschränkt, d.h. auch durch unbefugte Dritte, nutzbar. Somit können auch Schlüssel für kryptografische Verfahren darüber ausgelesen werden. In dieser Arbeit wird eine neuartige Gegenmaßnahme gegen Seitenkanalangriffe auf Test- und Debugschnittstellen vorgestellt. Der Ansatz basiert auf einem identischen Schlüsselpaar. Um den Chip zu testen und zu debuggen muss des Nutzer den geheimen Schlüssel in einen OTP Speicher schreiben. Dieser wird mit dem goldenen Schlüssel verglichen, welcher im Gerät in speziell entworfenen Einheiten gespeichert ist. Sind beide identisch, wird der Zugriff auf die Schnittstelle gewährt. Nach dem Abschluss von Test oder Debug, wird der Schlüssel im OTP gelöscht. Selbst wenn einem Angreifer nun dieser geheime Schlüssel bekannt sein sollte, ist es nicht möglich diesen nochmals in den OTP zu schreiben. Die Einheiten, welche den goldenen Schlüssel und die Vergleichslogik enthalten, sind mit Hilfe von digitalen Standardzellen konstruiert worden unter Verwendung einer besonders ausgeführten Verdrahtung. Dazu wurden kleine Isolationselemente aus der analogen Schaltungstechnik eingefügt. Mit diesen wird bestimmt, ob die Einheit eine 0 oder 1 enthält. Da beide Einheiten gleich aussehen, ist ein Reverse Engineering mit optischen Mitteln nicht möglich. Insgesamt werden 128 dieser Einheiten in einen Chip eingebaut, so dass der geheime Schlüssel 128 Bit lang ist. Der Schutzmechanismus kann gleichermaßen für das Scan Chain Interface als auch für die Debugschnittstelle benutzt werden. Jedoch hat jede Schnittstelle eine eigene Schutzeinheit. Die Scan Chain eines jeden Designs und IP Cores kann geschützt werden. Die dafür notwendige zusätzliche Fläche ist klein, die Taktfrequenz und die Leistungsaufnahme werden nicht nachhaltig beeinflusst. Die Debugschnittstelle eines Microcontrollers wird in verschiedenen Entwicklungsphasen genutzt. Dazu hat der OTP mehrere Einträge, so dass der Schlüssel mehrmals gesetzt werden und die Debugschnittstelle aktiviert und deaktiviert werden kann. Darüber hinaus gibt es einen adressbasierten Mechanismus für die Steuerung von Zugriffsrechten. Zusammengefasst wird in dieser Arbeit ein neuer und innovativer Ansatz zum Absichern der Test- und Debugschnittstelle vor Seitenkanalangriffen vorgestellt und evaluiert. KW - Scan chain KW - Debug interface KW - Secure KW - Testschnittstelle KW - Debugschnittstelle KW - Sicher KW - Kryptoanalyse KW - Schnittstelle KW - Chiffrierung Y1 - 2017 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-42932 ER - TY - THES A1 - Scharoba, Stefan T1 - Eine rechnergestützte Entwurfsraumexploration für fehlertolerante integrierte Schaltungen T1 - A computer-aided design space exploration for fault-tolerant integrated circuits N2 - Die stetige Verkleinerung der Strukturgrößen bei der Halbleiterfertigung ermöglicht die Herstellung von integrierten Schaltungen, die immer komplexere Aufgaben erfüllen können und dabei von Generation zu Generation kompakter, energieeffizienter und kostengünstiger werden. Ein Nachteil dieser Skalierung ist die zunehmende Anfälligkeit gegenüber verschiedenen physikalischen Effekten, die im Betrieb temporäre oder permanente Fehlern verursachen können. Dies erhöht die Notwendigkeit, Maßnahmen zu implementieren, die diese Fehler kompensieren und damit die Zuverlässigkeit der Schaltung steigern. Diese Dissertation beschreibt die Entwicklung und Implementierung von Methoden für einen gezielten Einsatz von Hardware-Redundanz beim Entwurf fehlertoleranter digitaler Schaltungen. Die entwickelten Methoden bilden die Grundlage für eine rechnergestützte Entwurfsraumexploration, bei der auf der Basis eines gegebenen Schaltungsentwurfs eine Vielzahl fehlertoleranter Entwurfskandidaten automatisiert erzeugt und evaluiert werden kann. Zur Bewertung der Kosten der verwendeten Hardware-Redundanz werden mehrere Verfahren vorgestellt, um die Veränderung von Schaltungsfläche, Verarbeitungsleistung und Verlustleistung zu bestimmen. Dazu gehört auch die Entwicklung und Evaluierung von Methoden, die Abschätzungen auf der Grundlage struktureller Eigenschaften und vorhandener Teilergebnisse liefern. Diese erreichen eine deutliche Beschleunigung gegenüber herkömmlichen Logiksynthesen und ermöglichen so in verschiedenen Phasen der Entwurfsraumexploration einen jeweils geeigneten Kompromiss zwischen Laufzeit und Genauigkeit. Für die Berechnung der Zuverlässigkeit und der erwarteten Lebensdauer von Entwurfskandidaten wird ein Modellierungsansatz eingeführt, der es ermöglicht, temporäre und permanente Fehler gemeinsam zu berücksichtigen. Darüber hinaus beschreibt die Dissertation einen Algorithmus zur automatischen Generierung entsprechender Modelle. Dieser wird verwendet, um für eine exemplarische Menge von Hardware-Redundanzstrategien die jeweils erreichbare Steigerung der erwarteten Lebensdauer zu berechnen. Die Ergebnisse geben Aufschluss über den Einfluss verschiedener Entwurfsentscheidungen und Randbedingungen auf die Wirksamkeit der eingesetzten Fehlertoleranzmaßnahmen. N2 - The continuing downsizing of structure sizes in semiconductor manufacturing enables the production of integrated circuits that can perform increasingly complex tasks while becoming more compact, energy-efficient and cost-effective. A disadvantage of this scaling is the increasing susceptibility to various physical effects that can cause temporary or permanent errors during operation. This raises the need to implement measures that compensate for these errors and thus increase the reliability of the circuit. This dissertation describes the development and implementation of methods for a purposeful use of hardware redundancy in the design of fault-tolerant digital circuits. The developed methods provide the basis for a computer-aided design space exploration, in which based on a given circuit design, a large number of fault-tolerant design candidates can be automatically generated and evaluated. For assessing the cost of utilized hardware redundancy, several techniques are presented to determine the change in circuit area, processing power and power dissipation. This includes the development and evaluation of methods that provide estimates based on structural properties and available partial results. These achieve significant speedups over conventional logic synthesis, enabling suitable trade-offs between runtime and accuracy at different stages of design space exploration. For the calculation of the reliability and mean time to failure of design candidates, a modelling approach is introduced that allows to jointly consider temporary and permanent errors. Furthermore, the dissertation presents an algorithm for the automatic generation of such models. This is used to calculate the achievable improvement in expected lifetime for an exemplary set of hardware redundancy strategies. The results provide insights into the influence of various design choices and boundary conditions on the effectiveness of the applied fault tolerance measures. KW - Fehlertoleranz KW - Integrierte Schaltungen KW - Hardware-Redundanz KW - Entwurfsraumexploration KW - Fault tolerance KW - Integrated circuits KW - Hardware redundancy KW - Design space exploration KW - Integrierte Schaltung KW - Hardwareentwurf KW - Redundanz KW - Fehlertoleranz Y1 - 2023 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-67164 ER - TY - THES A1 - Knobloch, Florian T1 - Energieeffiziente Beleuchtung unter Berücksichtigung einer verteilten Steuerung und eines redundanten Kommunikationssystems T1 - Energy efficient lighting considering a distributed control und a redundant communication system N2 - Das Thema siedelt sich im Bereich Smart-City an. Die Einsparung von Energie ist in der öffentlichen Straßenbeleuchtung von Interesse. Die Intention ist eine Automatisierung der Beleuchtungsanlage unter Nutzung einer drahtlosen Kommunikation. Ziel ist die Untersuchung des Einsparpotentials, der benötigten Datenraten und der Robustheit. Die physiologischen Bedürfnisse des Verkehrsteilnehmers zur Einhaltung der Verkehrssicherheit werden konsequent berücksichtigt. Die Umrüstung auf eine automatisierte Beleuchtung lohnt sich besonders in ländlichen Regionen oder Anliegerstraßen, wobei in Tempo-30-Zonen eine optimale Energieeffizienz existiert. Aufgrund eines beleuchteten Anhalteweges existieren maximale Einsparungen. Das Optimum wird durch eine Extremwertanalyse bewiesen und ausführlich untersucht. Die Einsparung hängt hauptsächlich von der Verkehrsstärke, der Verkehrsgeschwindigkeit und der Dimmstufe ab. Die lineare Abhängigkeit von der Dimmstufe wird bei einer geringen Verkehrsstärke durch eine Grenzwertanalyse gezeigt. 70 % Energie lässt sich im Gegensatz zu einer Dauerbeleuchtung mit typischen Parametern sparen. Im Gegensatz zu anderen Lösungskonzepten erreicht das entwickelte Moving-Light-System Mehreinsparungen von bis zu 23 %. Lichtplaner und Kommunen können örtliche Sparpotentiale mit dem neuen Modell berechnen, um zu prüfen ob sich eine Umrüstung überhaupt lohnen würde. Die benötigte Steuerung wird abstrakt beschrieben und mit Simulink verifiziert. Zur Verbesserung der Robustheit werden das schon vorhandene Licht und die ggf. schon vorhandenen Detektoren als redundantes Übertragungsmedium untersucht. Die Nutzung des sichtbaren Lichtes lohnt sich, wenn gleichzeitig solare Energiegewinne gewünscht sind, weil der notwendige Aperturdurchmesser des Detektors im Bereich mehrerer 10 cm liegt. Neben der optischen Kommunikation wird die Helligkeit benachbarter Leuchten automatisch mitgemessen. Dies ermöglicht die Detektion von Fehlerzuständen für eine verbesserte Wartung oder für die Aktivierung möglicher redundanter Fail-Safe-Funktionen. Eine hop-weise Lokalisierung wird in dem Multihopsystem ausgenutzt, damit die Steuerung ohne Kartenmaterial und Kompasssensor auskommt. Weitere Arbeit besteht bei der Quantifizierung der Eingangsparameter vom Menschen um den Lichtbedarf zu decken. Aufgrund der anwendungsorientierten Problemstellung liegt ein Querschnittsthema aus der Verkehrswissenschaft, Automatisierungstechnik, Kommunikationstechnik und Optik vor. Es wird eine Forschungshypothese vorangestellt. Sie dient als Leitfaden und stellt die wesentlichen Erkenntnisse vorweg. N2 - The topic “Energy-efficient lighting considering a distributed control and a redundant communication system” is relevant for smart city applications. Commonly at night, illumination systems require a huge amount of energy. Particularly in areas with a low frequency of pedestrians and automobiles, a large amount of power is wasted. The intention is to automate the lighting system using wireless communication. This work presents a new deterministic model to control street illumination, depending on traffic needs for improving energy efficiency. Potential savings, the required data rates and the robustness will be analysed. The light-on-demand system incorporates traffic velocity into the model and generates results that are more relevant to real time traffic needs, while ensuring safety and security. Rural regions have a high saving potential. The savings depend on the traffic volume, the traffic velocity and the dimming level. Over 70 % of energy can be saved, compared to continuous lighting with typical example parameters. A comparison with other publications demonstrates the highest savings up to 23 % of the developed model. Depending on traffic velocity, an optimal energy state is identified. The linear dependence on the dimming level is shown by a boundary value analysis at a low traffic density. The work provides a tool by which possible energy savings and real-time demands can be examined for street, parking or indoor areas. The required control system is verified by Simulink. In order to improve the robustness, the already existing light is examined as a redundant transmission medium. The communication performance is measured using an improved ceiling bounce channel model and a field measurement. The model is evaluated by a measurement and scaled up to an original dimension. In addition to optical communication, the brightness of neighbouring lamps is automatically measured. This allows a fault detection for improved maintenance or to use fail-safe modes. As a main result, the detector size for a redundant optical wireless communication is the key obstacle, however solar energy gains are increased by using larger apertures. More work is required to quantify the human input parameters. Due to the application, a cross section from the field of transport, automation, optics and communication technology is given. A research hypothesis is presented as a guideline and to show the main results. KW - Energieeffiziente Beleuchtung KW - Nutzerzentriertes Design KW - Echtzeit KW - Kabellose Kommunikation KW - Intelligente Straßenbeleuchtung KW - Energy efficient systems KW - User-centred design KW - Location-aware applications KW - Real-time wireless communication KW - Intelligent street lighting KW - Straßenbeleuchtung KW - Energieeffizienz KW - Smart City KW - Kommunikationssystem Y1 - 2018 U6 - http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-45480 ER -