Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Filtern
Dokumenttyp
- Zeitschriftenartikel (1)
- Vortrag (1)
Schlagworte
- X-Ray refraction (2) (entfernen)
Organisationseinheit der BAM
Eingeladener Vortrag
- nein (1)
An overview of the main Non-Destructive activities conducted at BAM for the microstructural characterization of Additive Manufacturing (AM) materials will be presented. Focus is made on the study of the influence of Selective Laser Melted (SLM) scan strategies on the defect population of a Ti-6Al-4V alloy using the Analyzer Based Imaging (ABI) technique available at the BAMline (BESSY II synchrotron facility). ABI technique takes advantage of X Ray refraction at interfaces to enable the determination of porosity features (orientation, homogeneity, etc.) within large volumes, otherwise not possible to image by means X ray micro Computed Tomography.
Additionally, for a SLM IN718 material, Energy Dispersive X Ray Diffraction (subsurface measurements at 100 µm depth) and neutrons diffraction (internal measurements at 3 mm depth) are combined with distortion measurements to produce a 3D description of the Residual Stress distribution throughout the entire sample.
Durch den großflächigen Einsatz der Computertomographie (CT) in unterschiedlichen Industriebereichen steigen auch die Anforderungen an die quantitative Bildanalyse. Subjektive Bildwahrnehmung muss durch objektive Algorithmen ersetzt werden. In diesem Artikel stellt die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), die seit den 1980er Jahren an der Entwicklung der industriellen CT beteiligt ist, anhand ausgewählter Beispiele den aktuellen Stand ihrer Analysemethoden an verschiedenen Anwendungsbeispielen der CT vor.