Analytische Chemie
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Als schweizweit einziger Hersteller produzierte die Gesellschaft der Ludwig von Roll'schen Eisenwerke seit den 1870er Jahren granulierte Hochofenschlacke. Im Blashochofen von Choindez im Schweizer Jura wird bis Mitte der 1920er Jahre Bohnerz aus dem Delsberger Becken, das kontemporär publizierten Analysen zufolge als Spuren- bzw. Schwermetalle Titan, Chrom, Blei und Vanadium enthält, zu grauem Roheisen verhüttet. In zementgebundenen Mörtelmischungen des 19. und frühen 20. Jahrhunderts aus verschiedenen Regionen der Schweiz finden sich neben reliktischen Hüttensandsplittern vereinzelt bis zu fünfhundert Mikrometer große scharze Kugeln mit grünlichem Schimmer, wohl nicht gemahlener Schlackensand. Deren mittels Ramanmikroskopie (Phasenbestand) und energiedispersiver Röntgenspektroskopie am Rasterelektronenmikroskop (Elementanalytik) ermittelte Mineralogie ergibt in Form von Plattnerit PbO2, Rutil TiO2 und vermitlich Chromit Fe(II)Cr2O4 bzw. Nichromit (Ni,Co,Fe(II))(Cr,Fe(III),Al)2)4 Übereinstimmungen mit den nur die Elementzusammensetzung berücksichtigenden historischen Resultaten. Ebenfalls im Zusammenhang mit dem das Bohnerz begleitenden Boluston samt Huppererde zu sehen sind die Minerale Coelestin SrSO4 und Zirkon ZrSiO4, des Weiteren der Siliciumcarbidpolymorph Moissanit SiC als Reaktionsprodukt von Quarzsand und Brennstoff. Die Kohärenz zwischen um die Jahrhundertwende durchgeführten Analysen von Rohmaterial als auch Ofenbruch aus dem in Choindez betriebenen Hochofen und den in diesem Beitrag diskutierten Resultaten moderner analytischer Methoden spricht für den Gebrauch von granulierter Schlacke aus dem Hause Ludwig von Roll als Mörtelzuschlag. Die Hüttensandkörner, eigentlich latent hydraulisch, sind aufgrund der fehlenden Aufbereitung zu grob für eine effektive Hydratation und deshalb trotz reaktiver Glasphase und Klinkermineralien (Belit Ca2SiO4 und Monocalciumaluminat CaAl2O4) intakt in der Bindemittelmatrix erhalten.
Die Bestimmung der chemischen Zusammensetzung einer Oberfläche und deren Quantifizierung mit wichtig für die Qualitätssicherung vieler industrieller Produkte und Materialien. Die chemische Beschaffenheit von Oberflächen bzw. Grenzflächen muss genau kontrolliert werden um die Produktqualität zu garantieren. Diese Prüfung ist oft auch für individuelle Prozessschritte durchzuführen.
Referenzmaterialien sind unverzichtbar, wenn es darum geht, die Richtigkeit und Zuverlässigkeit von Messergebnissen zu gewährleisten. Falsche Messwerte können zu erheblichen Mehrkosten führen. Referenzmaterialien gewährleisten die Rückführung von Messergebnissen auf anerkannte Bezugsgrößen (Standards), dienen der Ermittlung der Messunsicherheit von analytischen Verfahren und wer-den zur Kalibrierung verwendet. Für zertifizierte/akkreditierte (ISO 9000 und ISO 17025) Prüf- und Kalibrierlaboratorien ist der Einsatz von Referenzmaterialien in der Qualitätssicherung obligatorisch.
Ionischen Flüssigkeiten (IL) sind vielversprechende Kandidaten für die Verwendung als Referenzmaterial in oberflächenanalytischen Verfahren wie Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDX) und Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS). In zwei Machbarkeitsstudien wurde eine geeignete Klasse von ILs als Referenzmaterial getestet:
Für die Anwendung in EDX wurde die Eignung von ILs als Referenzmaterial zur routinemäßigen Überprüfung der Energieskala, der Energieauflösung und der Spektrometer-Effizienz untersucht. Es kann gezeigt werden, dass mit einer einzigen Messung an einem einzigen Referenzmaterial mehrere Geräteparameter überprüft werden können. Damit ist es im niederenergetischen Bereich möglich, regelmäßige Funktionsprüfungen von Spektrometern durchzuführen, aber auch die Leistungsfähigkeit verschiedener Spektrometer zu vergleichen
Für Die Anwendung in XPS wurde die Eignung von ILs als Referenzmaterial zur Bestimmung der Transmissionsfunktion T(E) von Photoelektronenspektrometern getestet. Dazu wurde die Auswertesoftware UNIFIT entsprechend adaptiert und erlaubt nun T(E) anhand der bekannten Stöchiometrie der IL zu ermitteln. Es wird gezeigt, dass durch die Verwendung ausgewählter ILs als Referenzmaterial die Genauigkeit der Quantifizierung von XPS Daten unter Nutzung einer experi-mentell bestimmten T(E) wesentlich verbessert werden kann.