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Erscheinungsjahr
- 2011 (1)
Dokumenttyp
Sprache
- Deutsch (1)
Referierte Publikation
- nein (1)
Schlagworte
- AFM-Spitzencharakterisierer (1)
- Nanotopographie (1)
- Rasterkraftmikroskopie (1)
- Rauheit (1)
- Weißlichtinterferometrie (1)