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Autor*in
Senoner, Mathias
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Österle, Werner
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Erscheinungsjahr
2004
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2003
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Dokumenttyp
Zeitschriftenartikel
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Forschungsbericht
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Sprache
Deutsch
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Englisch
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Referierte Publikation
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Schlagworte
Nanotechnologie (2)
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Report on an inter-laboratory comparison - Measurement of lateral structures in the nanometre range with Secondary Ion Mass Spectrometry; Project "Quality Assurance in Nano-scale Analysis" (Abschlussbericht)
(2003)
Senoner, Mathias
Bohrer für den Nanometerbereich - Mikrobearbeitung und Gefügedarstellung mit der Technik des fokussierten Ionenstrahls (FIB)
(2004)
Österle, Werner
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bis
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