Chemische Charakterisierung und Spurenanalytik
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Gold ist eines der sieben schon im Altertum bekannten Metalle und wurde wg. seines Glanzes und seiner Seltenheit von alters her als Tauschmittel und zur Herstellung von Schmuck benutzt. Außerdem ist es einfach bearbeitbar und weitestgehend gegen chemische Einflüsse resistent. Die Untersuchungen von Gold mit synchrotronstrahlungsangeregter Röntgenfluoreszenzanalyse sind zerstörungsfrei und geben Auskunft über die in der untersuchten Probe vorhandenen chemischen Elemente. Bei den hier vorgestellten Untersuchungen an der BAMline stehen Fragestellungen wie Herkunft, Herstellungsverfahren und Zusammengehörigkeit von Goldfunden im Vordergrund. Die verschiedenen Fragestellungen werden an einer Reihe von Beispielen erläutert die vom Wikingerschatz aus Hiddensee über die Himmelsscheibe von Nebra bis hin zu Funden aus Ägypten langen. Zusätzlich werden die modernen Messmethoden vorgestellt, die am Synchrotron heutzutage zur Verfügung stehen.
In this talk, the features of X-ray fluorescence analysis with synchrotron radiation will be presented. First, the basics of the origin of synchrotron radiation and X-ray fluorescence analysis and the experimental setup will be discussed. Then, examples of trace element detection, micrometer resolution, and application of the X-ray color camera will be shown.
XAFS@BAMline
(2018)
X-ray Absorption fine structure spectroscopy (XAFS) is a frequently employed technique in order to investigate structural composition and Change of chemical compounds such as catalytic species or corrosion processes. These structural properties are essential (i) to understand underlying reaction mechanism and (ii) to further improve the design of materials.
While XAFS measurements are usually performed with ionization Chambers or simple fluorescence detectors, we at BAMline specialize in measurements with innovative set-ups that meet Specialrequirements such as time resolution, (3D-) spatial Resolution or demanding sample environments.
This contribution presents various available XAFS configurations with their corresponding applications. In particular, these comprise single -shot XAFS for time- resolved measurements, grazing-exit XAFS with energy and a spatially resolved detector for the characterization of thin films and an in situ grazing incidence Setup for the characterization of corrosion layers.
Additionally,the possibility of analyzing Minute samples in total-reflection geometry is demonstrated.