Chemie und Prozesstechnik
Filtern
Erscheinungsjahr
- 2019 (1) (entfernen)
Dokumenttyp
- Vortrag (1)
Sprache
- Deutsch (1)
Referierte Publikation
- nein (1)
Schlagworte
- Weißlichtinterferenzmikroskopie (WLIM, 3D) (1) (entfernen)
Organisationseinheit der BAM
Eingeladener Vortrag
- nein (1)
Mechanische, topometrische und optische Charakterisierung von Schichten mit Stand der Normung
(2019)
Der Vortrag „MECHANISCHE, TOPOMETRISCHE UND OPTISCHE CHARAKTERISIERUNG VON SCHICHTEN MIT STAND DER NORMUNG“ widmet sich unterschiedlichen Beschichtungssystemen und deren mechanischer, topometrischer und optischer Charakterisierung. Über die entsprechenden aktuellen Normen wird informiert. Es betrifft Verfahren wie die Instrumentierte Eindringprüfung (IIT), Centrifugal Adhesion Testing, Weißlichtinterferenzmikroskopie, Tastschnittverfahren und Ellipsometrie (SE).