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Autor*in
Banhart, J.
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Garcia-Moreno, F.
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Manke, I.
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Rack, A.
(1)
Riesemeier, Heinrich
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Rueda, A.
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Zabler, S.
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Zaslansky, P.
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Erscheinungsjahr
2007
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Dokumenttyp
Zeitschriftenartikel
(1)
Sprache
Englisch
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Referierte Publikation
ja (1)
(entfernen)
Schlagworte
2D/3D imageanalysis
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LSW
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Microtomography
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Radiography
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Technical binary alloys
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Coarsening of grain-refined semi-solid Al-Ge32 alloy: X-ray microtomography and in situ radiography
(2007)
Zabler, S.
;
Rueda, A.
;
Rack, A.
;
Riesemeier, Heinrich
;
Zaslansky, P.
;
Manke, I.
;
Garcia-Moreno, F.
;
Banhart, J.
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