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Erscheinungsjahr
- 2002 (1)
Dokumenttyp
Sprache
- Deutsch (1)
Referierte Publikation
- nein (1)
Schlagworte
- Fehlergrößenbestimmung (1)
- Gruppenstrahlerprüfköpfe (1)
- Impuls-Echo-Technik (1)
- SEL-Prüfköpfe (1)
- TOFD (1)
Charakterisierung oberflächennaher Fehler an plattierten Komponenten mittels Gruppenstrahlertechnik
(2002)
Zusammenfassung
Nachdem Untersuchungen mit konventionellen Prüfköpfen an plattierten Bauteilen gezeigt haben, dass es möglich ist, mit Hilfe von Beugungsanzeigen bzw. -mustern die Größe und Tiefenlage von Fehlern im Plattierungsbereich zu bestimmen, wurde die Gruppenstrahlertechnik für Fehlersuche und -charakterisierung eingesetzt.
Der Vorteil bei der Arbeit mit Gruppenstrahlerprüfköpfen besteht darin, dass in einer Messfahrt eine Reihe von Einschallwinkeln abgearbeitet werden kann. Dies vereinfacht und verkürzt die Prüfung wesentlich.
So wurde von der ferritischen und der plattierten Seite der Testkörper mit der Impuls-Echo-Technik im halben Sprung, der TOFD-Technik und mit Sende-Empfangs-Prüfköpfen oberflächennah geprüft. Allerdings haben alle hier aufgeführten Verfahren ihre Grenzen, so sind z.B. Fehler, die eine Fehlergröße von £ 3 mm aufweisen, kaum noch zu charakterisieren. Hier ist nur der Nachweis möglich.
Es hat sich außerdem gezeigt, dass die TOFD-Technik nur als Ergänzung zu anderen Techniken eingesetzt werden sollte, da das Potenzial für die Verwendung als Suchtechnik nicht ausreichend ist.