Anmelden
Open Access
Startseite
Suchen
Browsen
Veröffentlichen
Hilfe
Schließen
Autoren/innen
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Titel
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Weitere Personen (z. B. Koautoren/innen)
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Gutachter/innen
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Zusammenfassung
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Volltext
Alle Wörter
Keines der Wörter
Filtern
Autor*in
Senoner, Mathias
(24)
Erscheinungsjahr
2013
(1)
2010
(1)
2009
(1)
2008
(1)
2007
(1)
2005
(2)
2004
(2)
2003
(4)
2002
(6)
2001
(3)
+ weitere
Dokumenttyp
Vortrag (24)
(entfernen)
Sprache
Deutsch
(16)
Englisch
(8)
Referierte Publikation
nein
(24)
Eingeladener Vortrag
nein
(24)
24
Treffer
1
bis
10
Export
CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
A reference material for calibration and testing of instruments with nanometric lateral resolution
(2002)
Senoner, Mathias
Accuracy of step height determination by Atomic Force Microscopy - results of an inter-laboratory comparison
(2002)
Senoner, Mathias
Ringversuch zur Bestimmung von Stufenhöhen im Nanometerbereich mit der Rasterkraftmikroskopie
(2003)
Senoner, Mathias
Entwicklung und Zertifizierung nanoskaliger Referenzmaterialien
(2003)
Senoner, Mathias
A new type of certified reference material for the analysis of surface structures in the nanometre range
(2003)
Senoner, Mathias
Qualitätssicherung in der Nanoanalytik
(2002)
Senoner, Mathias
Ringversuch zur Bestimmung von Stufenhöhen im nm-Berreich mit der Rasterkraftmikroskopie
(2003)
Senoner, Mathias
Verfahrensvalidierung durch Ringversuche
(2002)
Senoner, Mathias
Qualitätssicherung in der Nanoanalytik
(2002)
Senoner, Mathias
A new nanoscaled strip-pattern for the determination of lateral resolution in surface analysis
(2005)
Senoner, Mathias
1
bis
10
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.