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Abschätzung der Dicke absorbierender Schichten eines EDX-Detektorsystems mit Hilfe von Bremsstrahlungsspektren
(1996)
Procop, Mathias
Anforderungen an ein modernes EDX-System
(2007)
Procop, Mathias
Aufbau und Funktionsweise von energiedispersiven Röntgenspektrometern
(2000)
Procop, Mathias
Calibration of the detection efficiency of energy dispersive X-ray spectrometers for absolute intensity measurements and to establish a basis for a more rigorous quantitation procedure
(2008)
Procop, Mathias
Charakterisierung energiedispersiver Röntgenspektrometer durch Effizienz und Antwortfunktion
(2007)
Procop, Mathias
Combination of energy dispersive electron probe microanalysis with X-ray fluoescence analysis in a SEM
(2007)
Procop, Mathias
EDX-Spektrometerüberprüfung an der BAM gemäß ISO 17025
(2002)
Procop, Mathias
EDXTOOLS - ein Programmpaket in MATLAB zur Berechnung von Röntgenspektren und Spektrometereigenschaften
(2006)
Procop, Mathias
Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche
(2002)
Procop, Mathias
Eine Mikrofokus-Röntgenquelle als Zusatz zum Raserelektronenmikroskop für die Röntgenflüoreszenzanalyse
(2003)
Procop, Mathias
Einsatz des Röntec MultiMax in der Materialforschung und -prüfung
(2001)
Procop, Mathias
Elektronenstrahl-Mikroanalyse
(2001)
Procop, Mathias
Energiedispersive Röntgenspektrometrie und Qualitätssicherung
(2002)
Procop, Mathias
Erfahrungen mit STRATAGEM bei der Bestimmung von Metallschichtdicken im Nanometerbereich
(2001)
Procop, Mathias
Erste Ergebnisse mit m-XRF-Röhre am REM
(2003)
Procop, Mathias
Fehlermöglichkeiten bei der ESMA am REM/EDX
(2003)
Procop, Mathias
Laborpraxis mit dem IMOXS
(2007)
Procop, Mathias
Messung von absoluten Röntgenemissionsausbeuten für K-linien bei Elektronenanregung
(2003)
Procop, Mathias
Qualitätssicherung in einem REM/EDX-Labor
(1999)
Procop, Mathias
Röntgenfluoreszenz am Rasterelektronenmikroskop - Vor- und Nachteile gegenüber der Elektronenstrahlmikroanalyse
(2004)
Procop, Mathias
Röntgenfluoreszenz am Rasterelektronenmikroskop - Vor- und Nachteile gegenüber der Elektronenstrahlmikroanalyse
(2004)
Procop, Mathias
Röntgenmikrofluoreszenzanalyse im REM mit dem Thermo NSS300 und der Röntgenquelle iMOXS
(2006)
Procop, Mathias
Schichtdickenbestimmung für Nanometer-Kalibriernormale mittels XRF
(2001)
Procop, Mathias
Schnelle Elementverteilungsanalysen mit dem RÖNTEC ColorSEM
(2003)
Procop, Mathias
Stand und Perspektiven der Materialanalyse mittels Röntgenspektroskopie am Rasterelektronenmikroskop
(2004)
Procop, Mathias
Wie genau ist standardlose Elektronenstrahl-Mikroanalyse?
(2002)
Procop, Mathias
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