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Procop, Mathias
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Abschätzung der Dicke absorbierender Schichten eines EDX-Detektorsystems mit Hilfe von Bremsstrahlungsspektren
(1996)
Procop, Mathias
Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche
(2002)
Procop, Mathias
EDXTOOLS - ein Programmpaket in MATLAB zur Berechnung von Röntgenspektren und Spektrometereigenschaften
(2006)
Procop, Mathias
Wie genau ist standardlose Elektronenstrahl-Mikroanalyse?
(2002)
Procop, Mathias
EDX-Spektrometerüberprüfung an der BAM gemäß ISO 17025
(2002)
Procop, Mathias
Energiedispersive Röntgenspektrometrie und Qualitätssicherung
(2002)
Procop, Mathias
Erste Ergebnisse mit m-XRF-Röhre am REM
(2003)
Procop, Mathias
Eine Mikrofokus-Röntgenquelle als Zusatz zum Raserelektronenmikroskop für die Röntgenflüoreszenzanalyse
(2003)
Procop, Mathias
Fehlermöglichkeiten bei der ESMA am REM/EDX
(2003)
Procop, Mathias
Stand und Perspektiven der Materialanalyse mittels Röntgenspektroskopie am Rasterelektronenmikroskop
(2004)
Procop, Mathias
Messung von absoluten Röntgenemissionsausbeuten für K-linien bei Elektronenanregung
(2003)
Procop, Mathias
Schnelle Elementverteilungsanalysen mit dem RÖNTEC ColorSEM
(2003)
Procop, Mathias
Anforderungen an ein modernes EDX-System
(2007)
Procop, Mathias
Charakterisierung energiedispersiver Röntgenspektrometer durch Effizienz und Antwortfunktion
(2007)
Procop, Mathias
Schichtdickenbestimmung für Nanometer-Kalibriernormale mittels XRF
(2001)
Procop, Mathias
Elektronenstrahl-Mikroanalyse
(2001)
Procop, Mathias
Aufbau und Funktionsweise von energiedispersiven Röntgenspektrometern
(2000)
Procop, Mathias
Einsatz des Röntec MultiMax in der Materialforschung und -prüfung
(2001)
Procop, Mathias
Erfahrungen mit STRATAGEM bei der Bestimmung von Metallschichtdicken im Nanometerbereich
(2001)
Procop, Mathias
Combination of energy dispersive electron probe microanalysis with X-ray fluoescence analysis in a SEM
(2007)
Procop, Mathias
Qualitätssicherung in einem REM/EDX-Labor
(1999)
Procop, Mathias
Calibration of the detection efficiency of energy dispersive X-ray spectrometers for absolute intensity measurements and to establish a basis for a more rigorous quantitation procedure
(2008)
Procop, Mathias
Laborpraxis mit dem IMOXS
(2007)
Procop, Mathias
Röntgenfluoreszenz am Rasterelektronenmikroskop - Vor- und Nachteile gegenüber der Elektronenstrahlmikroanalyse
(2004)
Procop, Mathias
Röntgenfluoreszenz am Rasterelektronenmikroskop - Vor- und Nachteile gegenüber der Elektronenstrahlmikroanalyse
(2004)
Procop, Mathias
Röntgenmikrofluoreszenzanalyse im REM mit dem Thermo NSS300 und der Röntgenquelle iMOXS
(2006)
Procop, Mathias
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