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Die Technologie-Roadmap „Prozess-Sensoren 2027+“ ist eine Weiterentwicklung vorgängiger Technologie-Roadmaps. Im Zentrum dieser Roadmaps stehen Sensoren zur Erfassung von physikalischen und chemischen Messgrößen mittels spezifischer und unspezifischer Messverfahren, die zur Steuerung und dem besseren Verständnis von Prozessen dienen.
Die Roadmap fasst die gemeinsame Technologie- und Marktsicht von Anwendern, Herstellern und Forschungseinrichtungen im Bereich Prozess-Sensorik in der verfahrenstechnischen Industrie zusammen. Sie beschreibt die wesentlichen Trends im Bereich Prozess-Sensorik und künftige Handlungsbedarfe für Hersteller, Anwender sowie für Einrichtungen der Forschung und Lehre.
Für die aktuellen und zukünftigen Anforderungen an Prozess-Sensoren werden 19 Thesen formuliert. Die Thesen basieren auf den Thesen der vorangegangenen Roadmaps, wobei die aus heutiger Sicht erforderlichen Anpassungen, Ergänzungen und teilweise auch Streichungen vorgenommen wurden. Die Thesen sind in 5 Themencluster eingeordnet. Digitalisierung und Nachhaltigkeit sind übergreifende Kernthemen der künftigen Entwicklung.
Chapter 6: Case studies
(2023)
This guideline is intended to be used as an aid to laboratories when they are managing the
use of software and computers with respect to the requirements of ISO/IEC 17025. The
working group consisted of representatives from accreditation bodies and conformity assessment
operators, specifically laboratory organisations, but also included certification
bodies, inspection bodies and metrology institutes.
When it comes to higher accuracies, new technologies and real applications in additive manufacturing, there is one topic which cannot be avoided: The material response on the chosen processing parameters and its agreement and correspondence with literature data of the wrought material grade counterpart. In industrial Additive Manufacturing (AM) standards in terms of printing parameters, protection gas atmospheres or powder handling instructions are not obligatory. Therefore, the question must be answered whether the AM process is reproducible and reliable over different printing companies. This was the motivation to realize a round robin test between 8 European printing companies and academic partners. The consortium had printed and tested fatigue and tensile testing bars under plant-specific conditions. A commonly used cast aluminum alloy, AlSi10Mg, was chosen as test material for the PBF-LB/M process. Differences of the results between the partners and the scatter itself were discussed in detail.
When it comes to higher accuracies, new technologies and real applications in additive manufacturing, there is one topic which cannot be avoided: The material response on the chosen processing parameters and its agreement and correspondence with literature data of the wrought material grade counterpart. In industrial Additive Manufacturing (AM) standards in terms of printing parameters, protection gas atmospheres or powder handling instructions are not obligatory. Therefore, the question must be answered whether the AM process is reproducible and reliable over different printing companies. This was the motivation to realize a round robin test between 8 European printing companies and academic partners. The consortium had printed and tested fatigue and tensile testing bars under plant-specific conditions. A commonly used cast aluminum alloy, AlSi10Mg, was chosen as test material for the PBF-LB/M process. Differences of the results between the partners and the scatter itself were discussed in detail.
Nanotechnologien werden gegenwärtig als leistungsfähige Oberflächentechniken in erheblichem Umfange industriell genutzt. Dabei spielen dünne Schichten und deren Kenndaten eine wesentliche Rolle, z.B. als Röntgenspiegel oder optische und magnetooptische Datenträger. Die Schichtdicke zählt hierbei zu den technologisch wichtigen Parametern. Abgeleitet von Anwenderinteressen, werden für die Röntgenreflektometrie (XRR bzw. GIXR), Elektronenstrahl-Mikroanalyse (EPMA) und Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) einerseits und die Ellipsometrie andererseits zugeschnittene Schichtdickenmaßverkörperungen (SDM) entwickelt, gefertigt und untersucht. Das Ziel ist die Bereitstellung praxistauglicher, kalibrierter SDM, im weiteren Schichtdickennormale (SDN) genannt. SDN sind Maßverkörperungen, für die der Schichtdickenwert mit einer definierten Messunsicherheit bekannt und auf ein metrologisch anerkanntes Längennormal zurückgeführt ist. Berichtet wird über die Herstellung und messtechnische Charakterisierung der beiden spezifischen Varianten von Maßverkörperungen.