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Dudzus, Thomas
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Strahlenverfahren in Kombination - ein Werkzeug für Analyse und Zertifizierung von Feststoffen
(2002)
Berger, Achim
;
Ecker, Klaus
;
Görner, Wolf
;
Radtke, Martin
;
Reinholz, Uwe
;
Riesemeier, Heinrich
;
Segebade, Christian
Antimon implantiert in Silizium - Ein Schichtreferenzmaterial für die Oberflächenanalytik
(2002)
Ecker, Klaus
Viele (BAM-) Wege führen zu den leichten Elementen
(2002)
Merchel, Silke
;
Dudzus, Thomas
;
Ecker, Klaus
;
Hedrich, Martina
;
Kipphardt, Heinrich
;
Recknagel, Sebastian
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