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Autor*in
Stegemann, Bert (1)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
2007
(1)
Dokumenttyp
Beitrag zu einem Sammelband
(1)
Sprache
Englisch
(1)
Referierte Publikation
nein
(1)
Schlagworte
Atomic force microscopy (1)
(entfernen)
1
Treffer
1
bis
1
Export
CSV
RIS
XML
20
10
20
50
100
Spherical AFM Probes for Adhesion Force Measurements on Metal Single Crystals
(2007)
Stegemann, Bert
;
Backhaus, Henrik
;
Kloß, Heinz
;
Santner, Erich
1
bis
1
Einverstanden
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