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Dokumenttyp
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Non-destructive chemical depth-profiling of plasma polymers by variable excitation energy XPS
(2003)
Retzko, Iris
;
Swaraj, Sufal
;
Unger, Wolfgang
;
Matsubayashi, N.
;
Imamura, M.
;
Tanaka, T.
;
Shimada, H.
Non-destructive XPS depth-profiling of ta:C-films by variable excitation energy
(2003)
Retzko, Iris
;
Unger, Wolfgang
;
Matsubayashi, N.
;
Imamura, M.
;
Tanaka, T.
;
Shimada, H.
Non-destructive chemical depth-profiling by variable excitation energy XPS: TFAA derivatized allyl alcohol - ethylene plasma polymer films
(2004)
Retzko, Iris
;
Mix, Renate
;
Swaraj, Sufal
;
Unger, Wolfgang
;
Matsubayashi, N.
;
Imamura, M.
;
Tanaka, T.
;
Shimada, H.
Surface Analysis by XPS and XAS Using a High-Rsolution and High-Flux Soft X-ray from Synchrotron
(2003)
Matsubayashi, N.
;
Imamura, M.
;
Tanaka, T.
;
Shimada, H.
;
Retzko, Iris
;
Unger, Wolfgang
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