Anmelden
Open Access
Startseite
Suchen
Browsen
Veröffentlichen
Hilfe
Schließen
Autoren/innen
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Titel
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Weitere Personen (z. B. Koautoren/innen)
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Gutachter/innen
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Zusammenfassung
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Volltext
Alle Wörter
Keines der Wörter
Filtern
Autor*in
Schulz, Eckhard
(14)
Erscheinungsjahr
2005
(1)
2004
(4)
2003
(1)
2002
(4)
2001
(1)
1996
(3)
Dokumenttyp
Posterpräsentation (14)
(entfernen)
Sprache
Englisch
(12)
Deutsch
(2)
Referierte Publikation
nein
(14)
14
Treffer
1
bis
14
Export
CSV
RIS
XML
20
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
Mapping of local mechanical and thermal properties - The Scanning Force Microscope in Tribology
(2001)
Schulz, Eckhard
Nanolithography on Polymeric Surfaces
(2002)
Schulz, Eckhard
Ferroelectric Mikro- and Nanostructures by DPL
(2002)
Schulz, Eckhard
Tailored Ferroelectric Mikro- and Nanostructures by DPL
(2002)
Schulz, Eckhard
Reliability of Polymer Based Composites
(2002)
Schulz, Eckhard
A close view of the interface between cured epoxy-amine system and a thermoplastic polymer
(2004)
Schulz, Eckhard
A close view of the interface between cured epoxy-amine system and copper electrodes
(2004)
Schulz, Eckhard
Interphasial Stiffness Gradients in Polymer Materials
(2003)
Schulz, Eckhard
A close view of the interface between cured epoxy-amine system and thermoplastic polymer
(2004)
Schulz, Eckhard
A close view of the interface between cured epoxy-amine system and copper electrodes
(2004)
Schulz, Eckhard
Concentration and modulus gradients at the interface between an amine-cured epoxy and the thermoplastic PVP
(2005)
Schulz, Eckhard
Messung lokaler elektrischer Eigenschaften an keramischen Dielectrika
(1996)
Schulz, Eckhard
Determination of electric properties of heterogeneous systems using the contact and non-contact force microscopy (SFM)
(1996)
Schulz, Eckhard
Methoden zur simultanen Messung der Topographie und lokalen elektrischen Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie
(1996)
Schulz, Eckhard
1
bis
14
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.