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Autor*in
Arndt, Jürgen
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Hantsche, Harald
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Schmidt, Daniel
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Baudach, Steffen
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Beck, Uwe
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Erscheinungsjahr
2002
(1)
1979
(1)
1978
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Dokumenttyp
Beitrag zu einem Tagungsband
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Zeitschriftenartikel
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Sprache
Deutsch
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Englisch
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Damage Analysis of Coating/Substrate Systems - Multiprobe Techniques for the Evaluation of Defects and Surface Topography from the Micrometer- to the Nanometer-Range
(2002)
Baudach, Steffen
;
Beck, Uwe
;
Arndt, Jürgen
Selbstbau einer Füllstandskontroll- und Sicherheitseinrichtung für die N2-fl.-Kühlung von Halbleiterdetektorsystemen
(1978)
Arndt, Jürgen
;
Hantsche, Harald
Eine einfache Strahlstrom-Stabilisierungseinrichtung für das Stereoscan Mark II A
(1978)
Arndt, Jürgen
;
Hantsche, Harald
;
Schmidt, Daniel
A simple beam current stabilizing unit for SEMs
(1978)
Arndt, Jürgen
;
Hantsche, Harald
;
Schmidt, Daniel
Entwicklung eines rechnergesteuerten Schaltwerks für die automatische EDAX-Analyse
(1979)
Hantsche, Harald
;
Arndt, Jürgen
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