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2008
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Dokumenttyp
Zeitschriftenartikel
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Teststreifen für den Nanokosmos
(2004)
Senoner, Mathias
;
Wirth, Thomas
;
Unger, Wolfgang
Testing of Lateral Resolution in the Nanometre Range Using the BAM-L002 - Certified Reference Material: Application to ToF-SIMS IV and NanoESCA Instruments
(2005)
Senoner, Mathias
;
Wirth, Thomas
;
Unger, Wolfgang
;
Escher, M.
;
Weber, N.
;
Funnenmann, D.
;
Krömker, B.
Surface Chemical Analysis of DNA Microarrays - Application of XPS and ToF-SIMS for Surface Chemical Imaging on the µm Scale
(2008)
Weigel, W.
;
Unger, Wolfgang
;
Graf, Nora
;
Gross, Thomas
;
Wirth, Thomas
Testing the Lateral Resolution in the Nanometre Range with a New Type of Certified Reference Material
(2004)
Senoner, Mathias
;
Wirth, Thomas
;
Unger, Wolfgang
;
Österle, Werner
;
Kaiander, I.
;
Sellin, R. L.
;
Bimberg, D.
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bis
4
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