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Lange, Axel (7)
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New Developments in X-ray-Topography of Advanced Non-Metallic Materials
(2000)
Hentschel, Manfred P.
;
Müller, Bernd R.
;
Lange, Axel
;
Harbich, Karl-Wolfram
;
Schors, Jörg
;
Wald, Oliver
X-Ray Diffraction and Refraction Topography of Light Weight Materials
(2003)
Hentschel, Manfred P.
;
Lange, Axel
;
Harbich, Karl-Wolfram
;
Schors, Jörg
;
Wald, Oliver
X-ray diffraction and refraction topography of light weight materials
(2002)
Hentschel, Manfred P.
;
Lange, Axel
;
Harbich, Karl-Wolfram
;
Schors, Jörg
;
Wald, Oliver
NDE of micro structured materials by X-ray diffraction and refraction topography
(2007)
Hentschel, Manfred P.
;
Harbich, Karl-Wolfram
;
Müller, Bernd R.
;
Lange, Axel
;
Schors, Jörg
;
Wald, Oliver
Röntgentopografische Verfahren mit Klein- und Weitwinkelstreuung - Ein Überblick
(2008)
Schors, Jörg
;
Harwardt, Michael
;
Kupsch, Andreas
;
Lange, Axel
;
Wald, Oliver
X-Ray Diffraction Topography images materials by molecular probe
(2005)
Hentschel, Manfred P.
;
Lange, Axel
;
Schors, Jörg
;
Wald, Oliver
Quantitative X-ray Determination of CFRP Micro Structures
(2008)
Hentschel, Manfred P.
;
Müller, Bernd R.
;
Lange, Axel
;
Wald, Oliver
1
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