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Matsubayashi, N. (3)
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2010
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2004
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2003
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Sonstiges
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Zeitschriftenartikel
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Non-destructive chemical depth-profiling by variable excitation energy XPS: TFAA derivatized allyl alcohol - ethylene plasma polymer films
(2004)
Retzko, Iris
;
Mix, Renate
;
Swaraj, Sufal
;
Unger, Wolfgang
;
Matsubayashi, N.
;
Imamura, M.
;
Tanaka, T.
;
Shimada, H.
Non-destructive chemical depth-profiling of plasma polymers by variable excitation energy XPS
(2003)
Retzko, Iris
;
Swaraj, Sufal
;
Unger, Wolfgang
;
Matsubayashi, N.
;
Imamura, M.
;
Tanaka, T.
;
Shimada, H.
Non-destructive sub-surface chemical characterization of air-exposed plasma polymers by energy-resolved XPS
(2010)
Girard-Lauriault, Pierre-Luc
;
Retzko, Iris
;
Swaraj, Sufal
;
Matsubayashi, N.
;
Gross, Thomas
;
Mix, Renate
;
Unger, Wolfgang
1
bis
3
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