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Rasterkraft- und elektrische Leitfähigkeitsmikroskopie auf kohlefaserverstärkten Polymersystemen
(1994)
Rasterkraftmikroskopie mit Leitfähigkeitskontrast zur Oberflächenanalyse von Carbonfaser-Compositen
(1995)
After a delamination process in a C-fiber reinforced polymer composite, the identification of the polymer residue of poly-(phenylene sulphide) on carbon fiber surfaces gives important information on the composite failure mechanism. Using scanning force microscopy (SFM) in its lateral force imaging mode or with the stiffness imaging mode, it is almost impossible to distinguish the two composite components owing to a very low material-based contrast of the local friction and compliance. The new technique using contrast based on a local AC current measurement allows a clear identification of the conducting carbon fiber and the non-conducting polymer coverage.