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Senoner, Mathias
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Determination of modulation transfer function by imaging of square-wave gratings with different periods in the nanometre range
(2006)
Senoner, Mathias
BAM-L200 - Ein neuartiges Referenzmaterial für die Bestimmung und Kontrolle der Bildauflösung im Nanometerbereich
(2006)
Senoner, Mathias
Chemische Charakterisierung von mikro- und nanotechnologischen Bauteilen: Verfahrensentwicklung und Referenzmaterialien
(2006)
Unger, Wolfgang
;
Oran, Umut
;
Senoner, Mathias
;
Schmidt, M.
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