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Ringversuche in der Nanoanalytik
(2002)
Senoner, Mathias
Qualitätssicherung in der Nanotechnologie
(2002)
Senoner, Mathias
Qualitätssicherung in der Nanoanalytik
(2002)
Senoner, Mathias
Ein neuer Typ von Referenzmaterial für die Längenkalibrierung und die Bestimmung der lateralen Auflösung in der Oberflächenanalytik
(2004)
Senoner, Mathias
BAM-L002 - A new type of certified reference material for length calibration and testing of lateral resolution in the nanometre range
(2003)
Senoner, Mathias
A new type of certified reference material for length calibration and testing of lateral resolution in the nanometre range
(2004)
Senoner, Mathias
Determination of modulation transfer function by imaging of square-wave gratings with different periods in the nanometre range
(2006)
Senoner, Mathias
BAM-L200 - Ein neuartiges Referenzmaterial für die Bestimmung und Kontrolle der Bildauflösung im Nanometerbereich
(2006)
Senoner, Mathias
A new sub-lithographic strip pattern for the standardised determination of lateral resolution in the nanometer range
(2007)
Senoner, Mathias
A new type of certified reference material for length calibration and testing of lateral resolution in the nanometre range
(2004)
Senoner, Mathias
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