Anmelden
Open Access
Startseite
Suchen
Browsen
Veröffentlichen
Hilfe
Schließen
Autoren/innen
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Titel
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Weitere Personen (z. B. Koautoren/innen)
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Gutachter/innen
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Zusammenfassung
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Volltext
Alle Wörter
Keines der Wörter
Filtern
Autor*in
Senoner, Mathias
(6)
Unger, Wolfgang
(2)
Beck, Uwe
(1)
Koenders, L.
(1)
Paatsch, Wolfgang
(1)
Wilkening, G.
(1)
Wirth, Thomas
(1)
Erscheinungsjahr
2004
(1)
2003
(1)
2002
(4)
Dokumenttyp
Beitrag zu einem Tagungsband (6)
(entfernen)
Sprache
Deutsch
(3)
Englisch
(3)
Referierte Publikation
nein
(6)
Schlagworte
Halbleiter-Schichtstrukturen
(1)
Nanotechnologie
(1)
Oberflächenanalytik
(1)
Reference materials
(1)
Referenzmaterialien
(1)
SIMS
(1)
Zerstörungsfreie Prüfung
(1)
zertifiziertes Referenzmaterial
(1)
6
Treffer
1
bis
6
Export
CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
Qualitätssicherung in der Nanoanalytik
(2002)
Senoner, Mathias
Ein neues zertifiziertes Referenzmaterial für die Analyse von Oberflächenstrukturen im Nanometerbereich
(2003)
Senoner, Mathias
Qualitätssicherung in der Nanoanalytik
(2002)
Senoner, Mathias
Accuracy of step height determination by Atomic Force Microscopy - results of an inter-laboratory comparison
(2002)
Senoner, Mathias
;
Unger, Wolfgang
;
Koenders, L.
;
Wilkening, G.
A reference material for calibration and testing of instruments with nanometric lateral resolution
(2002)
Senoner, Mathias
;
Wirth, Thomas
;
Unger, Wolfgang
Development of reference materials for surface technology in the micrometer and nanometer range
(2004)
Paatsch, Wolfgang
;
Beck, Uwe
;
Senoner, Mathias
1
bis
6
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.