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Autor*in
Peplinski, Burkhard
(1)
Schultze, Dietrich
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Wenzel, Klaus-Jürgen
(1)
Erscheinungsjahr
2001 (1)
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Dokumenttyp
Beitrag zu einem Sammelband
(1)
Sprache
Englisch
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Referierte Publikation
nein
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Schlagworte
Silicon nitride (1)
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10
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Interlaboratory comparison (Round Robin) of the application of the Rietveld method to quantitative phase analysis by X-ray and neutron diffraction
(2001)
Peplinski, Burkhard
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Schultze, Dietrich
;
Wenzel, Klaus-Jürgen
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bis
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