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Autor*in
Koenders, L. (1)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
2002 (1)
(entfernen)
Dokumenttyp
Beitrag zu einem Tagungsband
(1)
Sprache
Deutsch
(1)
Referierte Publikation
nein
(1)
1
Treffer
1
bis
1
Export
CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Über die metrologische Charakterisierung von Schichtdicken Standards im Nanometerbereich
(2002)
Koenders, L.
;
Hasche, K.
;
Ulm, G.
;
Krumrey, M.
;
Ade, G.
;
Stümpel, J.
;
Busch, I.
;
Thomsen-Schmidt, P.
;
Schädlich, S.
;
Schindler, A.
;
Frank, W.
;
Beck, Uwe
;
Procop, Mathias
1
bis
1
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