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Bugge, C.
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Procop, Mathias
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Queisser, A.
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Rechenberg, I.
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Scheerschmidt, E.
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Seitz, H.
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Erscheinungsjahr
1995
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Dokumenttyp
Zeitschriftenartikel
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Sprache
Englisch
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Referierte Publikation
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Schlagworte
Laser
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TEM
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TEM Characterization of the Interface Quality of MOVPE Grown Strained InGaAs/GaAs Heterostructures
(1995)
Höpner, A.
;
Seitz, H.
;
Rechenberg, I.
;
Bugge, C.
;
Procop, Mathias
;
Scheerschmidt, E.
;
Queisser, A.
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