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Autor*in
Rechenberg, I. (1)
(entfernen)
Erscheinungsjahr
1995
(1)
Dokumenttyp
Zeitschriftenartikel
(1)
Sprache
Englisch
(1)
Referierte Publikation
ja
(1)
Schlagworte
Laser
(1)
TEM
(1)
1
Treffer
1
bis
1
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RIS
XML
10
10
20
50
100
TEM Characterization of the Interface Quality of MOVPE Grown Strained InGaAs/GaAs Heterostructures
(1995)
Höpner, A.
;
Seitz, H.
;
Rechenberg, I.
;
Bugge, C.
;
Procop, Mathias
;
Scheerschmidt, E.
;
Queisser, A.
1
bis
1
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