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Autor*in
Oran, Umut
(3)
Erscheinungsjahr
2003
(3)
Dokumenttyp
Posterpräsentation (3)
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Sprache
Englisch
(3)
Referierte Publikation
nein
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Study of effects of plasma parameters by characterization of pulse plasma deposited organic films
(2003)
Oran, Umut
A comparison study between Time-of-Flight Static Secondary lon Mass Spectrometry (TOF-SSIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) in terms of Poly-dimethyl-siloxane (PDMS) contemination of Polystyrene (PS) samples
(2003)
Oran, Umut
Characteriazation of Plasma-deposited Ethylene, Ally-alcohol and Ethylene-Ally-alcohol copolymer Films by Time-of-Flight Static Secondary lon Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
(2003)
Oran, Umut
1
bis
3
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