Anmelden
Open Access
Startseite
Suchen
Browsen
Veröffentlichen
Hilfe
Schließen
Autoren/innen
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Titel
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Weitere Personen (z. B. Koautoren/innen)
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Gutachter/innen
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Zusammenfassung
Alle Wörter
Mindestens ein Wort
Keines der Wörter
Volltext
Alle Wörter
Keines der Wörter
Filtern
Autor*in
Ade, G.
(2)
Beck, Uwe
(2)
Hasche, K.
(2)
Herrmann, K.
(2)
Krumrey, M.
(2)
Procop, Mathias
(2)
Thomsen-Schmidt, P.
(2)
Ulm, G.
(2)
Busch, I.
(1)
Frank, W.
(1)
+ weitere
Erscheinungsjahr
2002 (2)
(entfernen)
Dokumenttyp
Beitrag zu einem Sammelband
(1)
Beitrag zu einem Tagungsband
(1)
Sprache
Englisch (2)
(entfernen)
Referierte Publikation
nein (2)
(entfernen)
2
Treffer
1
bis
2
Export
CSV
RIS
XML
10
10
20
50
100
Sortieren nach
Jahr
Jahr
Titel
Titel
Autor*in
Autor*in
About the calibration of thickness standards on the nanometer scale
(2002)
Hasche, K.
;
Ulm, G.
;
Herrmann, K.
;
Krumrey, M.
;
Ade, G.
;
Sümpel, J.
;
Busch, I.
;
Thomsen-Schmidt, P.
;
Schädlich, S.
;
Schindler, A.
;
Frank, W.
;
Procop, Mathias
;
Beck, Uwe
Realisation and metrological characterisation of thickness standards below 100 nm
(2002)
Thomsen-Schmidt, P.
;
Hasche, K.
;
Ulm, G.
;
Herrmann, K.
;
Krumrey, M.
;
Ade, G.
;
Stümpel, J.
;
Procop, Mathias
;
Beck, Uwe
1
bis
2
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.