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Autor*in
Bergmann, J.
(1)
Kleeberg, R.
(1)
Peplinski, Burkhard
(1)
Wenzel, J.
(1)
Erscheinungsjahr
2004
(1)
Dokumenttyp
Beitrag zu einem Sammelband (1)
(entfernen)
Sprache
Englisch
(1)
Referierte Publikation
nein
(1)
Schlagworte
Interlaboratory Comparison
(1)
Quantitative Phase Analysis QPA
(1)
Reference Materials
(1)
Refinement Strategy
(1)
Rietveld Analysis
(1)
Round Robin
(1)
Silicon Nitride
(1)
1
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1
bis
1
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RIS
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10
10
20
50
100
Quantitative phase analysis using the Rietveld method - Estimates of accuracy and possible problems based on two interlaboratory comparisons
(2004)
Peplinski, Burkhard
;
Kleeberg, R.
;
Bergmann, J.
;
Wenzel, J.
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bis
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