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Ellipsometry is a useful tool for studying the optical properties of thin films such as photovoltaic devices. We employ Müller matrix ellipsometry to study the thin film photovoltaic material copper indium gallium selenide Cu(In,Ga) Se2 (CIGS), a commercially relevant material with high energy conversion efficiency. Confocal microscopy reveals an rms roughness of 68 nm, which greatly affects the ellipsometry data. Rayleigh-Rice theory is employed to account for the optical properties of the surface roughness in the ellipsometry experiment, and a library search method is used to compare Müller parameters calculated for various CIGS compositions, to the measured data. The Müller parameters calculated with the Rayleigh-Rice model are found to correspond well with the measured data, and a surface roughness of 37nm and a correlation length of 125nm are extracted.
Die Analyse der Lebensdauer von Bauteilen unter thermomechanischer Ermüdung (TMF) erfordert ein geeignetes Stoffgesetz, welches in der Lage ist, zyklische Plastizität die Abhängigkeit der Spannungsantwort nach der Dehnrate, Kriechen und Spannungsrelaxation temperaturabhängig zu beschreiben und ein Lebensdauermodell, welches in Abhängigkeit von der örtlich aufgelösten Spannungs- und Verformungsgeschichten eine Schätzung der Anzahl der Zyklen bis zum Anriss liefern kann.