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Autor*in
Hentschel, Manfred P.
(1)
Erscheinungsjahr
2008
(1)
Dokumenttyp
Buchkapitel (1)
(entfernen)
Sprache
Deutsch
(1)
Referierte Publikation
nein
(1)
Schlagworte
Zerstörungsfreie Materialcharakterisierung (1)
(entfernen)
1
Treffer
1
bis
1
Export
CSV
RIS
XML
50
10
20
50
100
Röntgen-Topographie mittels Klein- und Weitwinkelstreuung
(2008)
Hentschel, Manfred P.
1
bis
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Einverstanden
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