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2005
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Zeitschriftenartikel
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Testing of Lateral Resolution in the Nanometre Range Using the BAM-L002 - Certified Reference Material: Application to ToF-SIMS IV and NanoESCA Instruments
(2005)
Senoner, Mathias
;
Wirth, Thomas
;
Unger, Wolfgang
;
Escher, M.
;
Weber, N.
;
Funnenmann, D.
;
Krömker, B.
Testing the Lateral Resolution in the Nanometre Range with a New Type of Certified Reference Material
(2004)
Senoner, Mathias
;
Wirth, Thomas
;
Unger, Wolfgang
;
Österle, Werner
;
Kaiander, I.
;
Sellin, R. L.
;
Bimberg, D.
Materialien mit Maß
(2005)
Senoner, Mathias
;
Beck, Uwe
;
Paatsch, Wolfgang
Entwicklung von Referenzmaterialien für die Oberflächentechnik im Mikrometer- und Nanometerbereich
(2004)
Paatsch, Wolfgang
;
Beck, Uwe
;
Senoner, Mathias
Teststreifen für den Nanokosmos
(2004)
Senoner, Mathias
;
Wirth, Thomas
;
Unger, Wolfgang
Normale für die dimensionelle und analytische Nanometrologie
(2004)
Koenders, L.
;
Dziomba, T.
;
Thomsen-Schmidt, P.
;
Senoner, Mathias
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